X射线衍射分析(XRD)是一种功能强大的非破坏性分析技术,它提供结构、相位、晶体取向及其它结构参数分析。目前 X射线衍射已经成为了研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。那么,请问在测试过程中,X射线衍射实验中对样品的制备有哪些要求?