当前位置: X-MOL首页全球导师 国内导师 › 张弓

个人简介

教育背景 1993-1997年 日本东京工业大学金属工学科 工学博士 1986-1988年 清华大学机械工程系金属材料及热处理专业 工学硕士 1981-1986年 清华大学机械工程系金属材料及热处理专业 工学学士 工作履历 2008- 清华大学机械工程系 教授 2000-2008年 清华大学机械工程系 副教授 1997-2000年 日本超高温材料研究所 研究员(Nedo Fellow) 1990-1993年 清华大学材料系 讲师 1988-1990年 清华大学材料系 助教 主要项目 2000年开始从事铜铟镓硒(CIGS)系薄膜太阳能电池的研究,负责并完成清华大学985基础研究基金支持的“带隙梯度CIGS薄膜太阳能电池的研究与开发”课题 主持完成863子课题“铜铟硒薄膜电池关键靶材的研制开发(2004AA513023)”的研究 参与并完成863子课题 “CIGS电池中试技术方案的设计与可行性论证(2001AA513024)”的研究 正在进行863专题“高效率梯度带隙CIGSS/CIGS复合薄膜太阳能电池开发研究(2007AA05Z461)”的研究 主持横向技术开发课题“铜铟镓硒薄膜太阳能电池工业化生产技术开发”和“薄膜太阳能电池用关键靶材生产技术开发”的研究 1999年起从事Nb基合金的高温抗氧化性的研究,以离子工学的方法对Nb基合金基进行被覆,以提高Nb基合金的抗氧化能力 1997年起从事碳素/碳素复合材料的抗氧化涂层的研究。在碳素/碳素复合材料和SiC抗氧化层的过度层的形成机理方面提出了新的见解和新的过渡层形成方法 1993年到1997年从事垃圾焚烧炉余热发电热交换器腐蚀问题的研究,首次应用电化学方法对垃圾焚烧灰的腐蚀问题进行研究,建立了垃圾焚烧灰熔融盐腐蚀的电化学模型,提出了用电化学方法进行耐蚀材料的筛选,并建立和完善了熔融盐腐蚀的电化学监测方法。 1988年到1992年参加电子部重点攻关项目「半导体器件外壳断裂机理和防止」的研究,该项目获电子部科技进步二等奖和国家科技进步三等奖

研究领域

薄膜太阳能电池、功能薄膜研究 电子封装、纳米材料的研究 研究开发无铅焊料及其制备工艺 熔融盐腐蚀研究

近期论文

查看导师新发文章 (温馨提示:请注意重名现象,建议点开原文通过作者单位确认)

谭毅,张弓.《新功能材料》.冶金工业出版社,2004. 朱张校,姚可夫,张弓等.《工程材料》第四版.清华大学出版社,2010. 杨宇、张弓、庄大明. 硫化时间对于固态硫化CuInS_2薄膜性能影响.真空科学与技术学报,30(2):236-239. 张险峰、张弓、庄大明. 溶液pH值对化学浴沉积CdS薄膜性能的影响.太阳能学报,2009,30(7):870-873. 韩东麟, 张弓,庄大明,元金石,宋军. 硒蒸气硒化法制备CIGS薄膜的影响因子(Ⅰ) 氩气流量对CIGS薄膜结构和形貌的影响.太阳能学报,2009,30(4):426-429. 查杉,元金石,张弓,庄大明. 铜铟硫薄膜的固态硫化法制备及其性能研究.真空科学与技术学报,2007,27(1):63-66. Han Donlin, Zhang Gong, Zhuang Daming. Influence of carrier gas on microstructures and morphologies of Cu(In1-xGax)Se2 films. Journal of Vacuum Science and Technology, v 28, n 3, p 235-239, June 2008. Fang Ling, Zhang Gong, Zhuang Daming. Local segregation in Cu-In precursors and its effects on microstructures of selenized CuInSe2 thin films. Journal of Central South University of Technology (English Edition), v 12, n 1, p 13-16, February 2005. 侯天雅,张弓,庄大明. ZBO(ZnO∶B)靶材烧结机理与特征的研究 . 真空科学与技术学报,2006,26(6):504-506. 杨波,张弓,庄大明,李秋芳. 氧流量和热处理温度对锡酸锌薄膜结构的影响.真空科学与技术学报,2005,25(5):391-395. 方玲,张弓,庄大明. Cu-In膜成分偏析对CIS膜结构的影响.清华大学学报,2004,44(5):593-596. Wang Chao, Zhang Gong, Zhuang Daming.I-V characteristics of tantalum oxide film and the effect of defects on its electrical properties. Thin Solid Films, v 458, n 1-2, p 246-250, June 30, 2004.

推荐链接
down
wechat
bug