林芳 - 华南农业大学 - 电子工程学院（人工智能学院）

个人简介

林芳，女，1979年9月出生。2007年毕业于北京大学电子学系，获理学博士学位；2007年至今在华南农业大学任职。2011年12月评为副教授；2012年12月新增为学术型研究生导师。已主持完成国家自然科学基金青年小额探索项目一项及国家基金面上项目一项，广东省自然科学基金面上项目一项，现正主持国家自然科学基金面上项目一项；以第一指导教师指导本科生获得广东省挑战杯一等奖、国家挑战杯三等奖等多个奖次。近五年发表科研论文10余篇；其中以第一作者发表的SCI/EI收录论文5篇。工作经历： 2012/12新增为学术型研究生导师；2014/06获得研究生招生资格 2011/12~至今华南农业大学理学院应用物理系副教授 2007/07~2011/12 华南农业大学理学院应用物理系讲师学习经历： 2001/09-2007/01 北京大学信息科学技术学院电子学系理学博士（硕博连读） 1997/09-2001/07 厦门大学物理与机电学院物理系理学学士教学：主讲“光电子技术”、“光电技术实验”、“光电探测课程设计”、“大学物理及大学物理实验”等课程。近年主持的项目： 1、主持国家自然科学基金面上项目，“利用高分辨电子显微像分析晶体势场与原子列厚度的研究”；2012/01-2015/12。 2、主持广东省自然科学基金的面上自由申请项目，“高分辨电子显微像的波函数重构的理论研究与应用”；2010/10-2012/10。(已结题) 3、主持国家自然科学基金青年基金的小额资助项目，“高分辨电子显微镜像处理软件的开发”；2008/01-2008/12。(已结题) 4、主持，“原子层厚二维材料的定量电子显微学表征”，国家自然科学基金面上项目；研究期限2016.1-2019.12。人才计划项目： 1、2014年，选为“千百十人才培养工程”第八批校级培养对象； 2、2010年上半年华南农业大学首批“骨干教师”培养对象。

研究领域

从事电子显微镜的成像理论与图像处理的研究。针对成像中引入的透镜畸变，采用数值计算方法实现矫正，提高图像分辨率；从材料结构模拟电子显微像，通过计算模拟的方法，比对后分析材料结构。近期研究的课题和兴趣包括：透射电镜的高分辨像、扫描透射像的理论研究；从二维图像出发，利用成像理论、研究数学算法，求解样品的厚度信息；液体中纳米颗粒的显微成像与图像分析；系列束倾斜电子显微像的三维体重建的应用与算法研究，等。

近期论文

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1、F. Lin, J.J. Jian, L.S. Ye, C.H. Jin, Effects of non-rotationally symmetric aberrations on the quantitative measurement of lattice positions in a graphene monolayer using high-resolution transmission electron microscopy. Microscopy, 2015, 64(5): 311-318.(第一作者&通讯作者；SCI；IF=1.743；JCR大类为工程技术，三区) 2. Y Jiang, T Bian, F Lin, H Zhang, C Jin, ZY Li, D Yang, Z Zhang. Revealing the elemental-specific growth dynamics of Pt–Cu multipods by scanning transmission electron microscopy and chemical mapping. Journal of Materials Chemistry A 3 (42), 21284-21289. (第三作者；SCI；IF=7.443；JCR大类为工程技术，一区) 2、Fang Lin, Changhong Jin, Inverse problem of the multislice method in retrieving projected complex potentials from the exit-wave function.. Micron, 2014, 58, pp. 47-54.(Micron为SCI收录的电子显微镜专业杂志, 2013年IF为1.9) 3、Q. Feng, Y. Zhu, J. Hong, M. Zhang, W. Duan, N. Mao, J. Wu, H. Xu, F. Dong, F. Lin, C. Jin, C. Wang, J. Zhang, L. Xie. Growth of Large-area 2D MoS2(1-x)Se2x Semiconductor Alloys. Adv Mater., 2014, 26(17): pp. 2648-2653, 2613.（SCI, IF=14.8；负责电镜像的原子数量分析） 4、Y.Y. Jiang, G.M. Zhu, F. Lin, H. Zhang, C.H. Jin, J. Yuan, D. Yang, Z. Zhang.In situ study of oxidative etching of palladium nanocrystals by liquid cell electron microscopy. Nano Letters. 2014, 14(7), pp. 3761-5. （SCI, IF为13） 5、G. Zhu, Y. Jiang, F. Lin, H. Zhang, C. Jin, J. Yuan, D. Yang and Z. Zhang. In situ study of the growth of two-dimensional palladium dendritic nanostructures using liquid-cell electron microscopy. Chemical Communications，2014, 50(67), pp.9447-9450. (SCI, IF为6.38) 6、Fang Lin, Changhong Jin, An improved Wiener deconvolution filter for high-resolution electron microscopy images. Micron, 2013, 50, pp. 1-6. (SCI, 2013年IF为1.9) 7、G. Zhu, Y. Jiang, W. Huang, H. Zhang, F. Lin, C. Jin, J. Yuan, Deren Yang and Ze Zhang. In situ study of the growth of two-dimensional palladium dendritic nanostructures using liquidcell electron microscopy. Chemical Communications，2013, 49(93), pp.10944-10946. (SCI, IF为6.38) 8、Fang Lin, Hai Li, Zhelang Pang. A new objective function and its characteristic to search for accurate parameters of HRTEM image.Proceedings of the international conference on information science and technology，pp.647-651,2011. (EI收录会议) 9、Fang Lin. Physical properties of the junction of scandium and carbon nanotubes, Journal of Zhejiang University-Science A, 2011,12(4),pp255-259. (EI) 10、Fang Lin, Yan Liu, Xiaoyan Zhong, Jianghua chen, An improved image alignment procedure for high-resolution transmission electron microscopy. Micron，2010，41, pp. 367-372。（SCI，2008年IF为1.84） 11、林芳*, 金传洪，利用 REW 软件实现石墨烯的单个碳原子分辨，电子显微学报，2010年第二期, pp .119-122。 12、C.H. Jin*, F. Lin*, K. Suenaga*, S. Iijima, Fabrication of a Freestanding Boron Nitride Single Layer and Its Defect Assignments, Physical Review Letters, 2009，102(19):195505.（SCI, 本人为并列通讯作者；IF>7.0） 13、林芳*, 潘哲朗, 陈江华，REW软件——高分辨电子显微镜的像模拟与出射波函数重构的应用软件。电子显微学报，2009，28(3), pp. 193-199。 14、 F. Lin, Q. Chen, and L.-M. Peng, REW – exit-wave reconstruction and alignments for focus-variation high-resolution transmission electron microscopy images, Journal of Applied Crystallography, 2007, 40, p. 614. (SCI,2008年IF为3.21)