张天伟 - 哈尔滨工业大学（威海）

个人简介

教育经历 2001.09－2005.07 南京航空航天大学材料科学与工程本科生 2005.08－2008.07 北京科技大学材料科学与工程硕士研究生 2008.08－2014.11 西安交通大学材料科学与工程博士研究生工作经历 2014.12-2017.07 哈尔滨工业大学材料科学与工程博士后 2017.09-至今哈尔滨工业大学(威海)土木工程系，工程师

研究领域

本科力学实验教学

近期论文

查看导师新发文章（温馨提示：请注意重名现象，建议点开原文通过作者单位确认）

Effect of stacking sequence on crystallization in Al/a-Ge bi-layer thin films，Journal of Vacuum Science & Technology A, 32, 031501,(2014), Zhang TW; Ma F; Xu KW, et al. Diffusion-controlled formation mechanism of dual-phase structure during Al induced crystallization of SiGe, Applied Physics Letters, 100, 071908 (2012), Zhang, TW; Ma, F; Zhang, WL; Ma, DY; Xu, KW; Chu, PK. Effect of Oxide Layer on Al-induced Crystallization of Amorphous Si1-xGex Thin Films, INEC: 2010 3RD INTERNATIONAL NANOELECTRONICS CONFERENCE, 1 (2010): 493-494 , Zhang TW; Ma F; Xu KW Conversion of strain state from biaxial to uniaxial in strained silicon, Applied Physics Letters, 98, 191907 (2011), Ma, F; Zhang, TW; Xu, KW; Chu, PK 等离子体辅助ITO薄膜低温生长，真空科学与技术学报，28（2008）：74-78，张天伟，杨会生，罗庆洪，王燕斌，陆永浩。溅射角度度对氧化铬薄膜性能结构的影响，真空科学与技术学报，S1（2008）：13-16，罗庆洪，杨会生，张天伟，王燕斌，陆永浩，于栋利。