个人简介
杨智明,男,汉族,1979年生。哈尔滨工业大学电子与信息工程学院副教授,博士生导师。
承担项目
主持部委级“十四五”重大基础研究项目、国家自然科学基金、部委级“十二五”预先研究项目、预研基金,以及部委级项目十余项;作为主要参与人,承担部委级“十三五”预先研究项目及以及一批省部级重点项目;2012年,获部委级技术发明三等奖
工作经历
2020.07至今 博士生导师 哈尔滨工业大学 电子与信息工程学院
2018.11至今 副教授 哈尔滨工业大学 电子与信息工程学院
2013.12-2018.11 副教授 哈尔滨工业大学 电气工程及自动化学院
2016.03-2017.03 访问学者 美国亚利桑那州立大学 计算机工程学院
2011.09-2016.03 博士后 哈尔滨工业大学 电子与通信工程学院
教育经历
1998.9-2002.7 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系 本科
2002.9-2004.7 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系 硕士
2005.3-2009.7 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系 博士
科研奖励
2012年12月,部委技术发明三等奖
教学奖励
2007年12月 被评为电气学院优秀班主任一等奖;主讲本科必修课程“数字信号处理”,2008年,协助申报并完成教育部双语教学建设项目和省教改项目;2013年1月--2014年12月,主持黑龙江省教育科学规划课题“面向实践的数字信号处理课程教学方法研究”。2013年获电气学院青年教师基本功大赛一等奖
研究领域
长期从事电子系统可测性设计技术、测试与故障诊断方法的研究,在集成电路失效机理分析、可测性设计理论与方法、电子系统故障诊断理论与方法、测试资源优化方法等方面开展了一系列研究工作。按照测试和诊断层次,研究工作主要划分为如下两个内容。
研究内容1:电子系统系统级测试和故障诊断方法
研究适合于复杂电子系统的系统级测试和故障诊断方法,设计智能内建自测试单元,构建层次化故障诊断体系结构,将机器学习方法应用于电子系统故障诊断中,提出一系列基于模型和数据的故障诊断方法,逐步实现了面向复杂运行环境的电子系统状态感知、测试数据智能建模、故障检测、故障定位等基础算法。
(1)电子系统自动测试理论研究。针对电子系统失效机理不清晰问题,提出面向极限条件的电气边界特性测试方法,研究模拟、数字、混合、射频等类型电路在极限电气/环境应力条件下关键特性参数的变化趋势和失效模式;
(2)测试信息智能获取与建模方法。针对电子系统测试信息难以获取的问题,提出基于混合诊断模型的测试性建模方法,设计智能内建自测试单元,并构建层次化测试体系结构,实现电子系统状态的智能感知;
(3)数据驱动故障特征识别与诊断方法。针对电子系统早期故障状态下,故障特征存在的不确定性且不完备性特点,提出数据相关核优化方法,实现电子系统故障检测模型的构建,并利用基于概率推理的贝叶斯网络,实现故障定位和故障隔离。
研究内容2:集成电路故障预测及容错控制方法
研究集成电路退化效应物理机制,关键参数退化模型构建,故障预测方法和容错策略等内容,构建了一套完整的集成电路故障预测及容错控制方法的设计、仿真和验证平台,为进行集成电路可靠性设计提供依据。
(1)退化机理分析及退化模型建立方法。研究集成电路典型退化效应的物理机制,构建底层器件关键敏感参数在多退化效应共同作用下的失效物理模型;从电路层面,研究面向不同环境应力、拓扑结构及工作负载情况下,电路的退化特点,构建电路全寿命周期退化模型,进而建立电路各阶段最大退化程度预测模型,为电路可靠性设计提供依据。
(2)面向退化效应的集成电路故障预测与容错控制方法。结合退化效应的实际特点,设计在线故障预测单元,对电路关键特性参数退化程度进行实时监测和预警;针对传统的容错控制方法造成的电路性能下降和面积/功率损耗问题,从电路状态控制、性能余量调整、容错计算结构设计等多个角度,提出面向退化效应的集成电路容错控制方法,逐步实现对退化效应的感知、预测和容错,确保电路生命周期可靠性。
近期论文
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NBTI-aware adaptive minimum leakage vector selection using a linear programming approach Zhiming Yang*, Yang Yu, Chengcheng Zhang, Xiyuan Peng. Integration the VLSI Journal 53 (C) :126-137.
NBTI and Power Reduction Using a Workload-Aware Supply Voltage Assignment Approach. , Yang Yu, Jie Liang, Zhiming Yang*, Xiyuan Peng. Journal of Electronic Testing Vol. 10 :1-15.
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基于偏置经验特征映射的电路故障诊断方法研究 杨智明,俞洋,乔立岩,王钢 仪器仪表学报 Vol. 34, No. 7, pp. 1595-1602
Semi-supervised kernel learning based optical image recognition Junbao Li, Zhiming Yang, Yang Yu, Zhen Sun. Optics Communications, Vol. 285, No. 18, pp. 3697-3703
学术兼职
中国电子学会 会员
美国电气和电子工程师协会 会员