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招生方向 光学检测 专利成果 ( 1 ) 大口径平面光学元件疵病三位快速暗场检测装置和方法, 2018, 第 1 作者, 专利号: ZL201510638611.3

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(1) CHINESE OPTICS LETTERS, CHINESE OPTICS LETTERS, 2018, 第 1 作者 (2) 光学学报, 光学学报, 2017, 第 1 作者

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