李坊森 - 中国科学技术大学 - 纳米技术与纳米仿生学院

个人简介

2006年获得西北工业大学学士学位；2011年获得西北工业大学博士学位，2008-2010年在英国伯明翰大学做联合博士研究，博士学位论文获得2014年“陕西省优秀博士学位论文”。2012-2015年清华大学薛其坤院士组做博士后研究工作。2015年加入中科院苏州纳米所，纳米真空互联实验站，任副研究员。2016年入选“江苏省双创团队”核心成员，2017年入选中科院青年创新促进会会员。已在国际学术期刊杂志上发表SCI收录的学术论文50余篇，申请发明专利5项，其中以第一作者/通讯作者在JACS, ACS Nano，2D Mater., J. Phys. Chem. C, Langmuir, Phys. Rev.系列等期刊发表论文20余篇。主持国家自然科学基金、省自然科学基金等3项。

研究领域

通过原子尺度精确控制合成人工低维量子材料，特别是二维高温超导薄膜，利用现代表面科学方法，研究其生长机理、缺陷形成机制、电子结构，对新奇量子现象和高温超导微观机理进行系统探索。原位生长和界面调控III-V族化合物，研究其物理性质与III-V族化合物光电性质的关联。目前研究手段主要有分子束外延生长（MBE）、低温四探针显微镜（4-probe STM）、超低温强磁场扫描隧道显微镜（ULT-STM）、扫描隧道显微镜（STM）和高能量分辨角分辨光电子能谱（ARPES）。

近期论文

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1.L. Wang, Y. Wu, Y. Yu, A. Chen, H. Li, W. Ren, S. Lu, S. Ding*, H. Yang, Q. K. Xue, F. S. Li*, and G. Wang*, Direct Observation of One-Dimensional Peierls-type Charge Density Wave in Twin Boundaries of Monolayer MoTe2, ACS Nano 14, 8299 (2020). 2. Y. Zhu, R. Huang, Z. Li, H. Hao, Y. An, T. Liu, Y. Zhao, Y. Shen, Y. Guo, F. S. Li*, and S. Ding, Interface analysis of TiN/n-GaN Ohmic contacts with high thermal stability, Applied Surface Science 481, 1148 (2019). 3. F. S. Li, Q. Zhang, C. Tang, C. Liu, J. Shi, C. Nie, G. Zhou, Z. Li, W. Zhang, C.-L. Song, K. He, S. Ji, S. Zhang, L. Gu, L. Wang, X.-C. Ma, and Q.-K. Xue, Atomically resolved FeSe/SrTiO3(001) interface structure by scanning transmission electron microscopy, 2D Materials 3, 024002 (2016). 4. F. S. Li, H. Ding, C. Tang, J. Peng, Q. Zhang, W. Zhang, G. Zhou, D. Zhang, C.-L. Song, K. He, S. Ji, X. Chen, L. Gu, L. Wang, X.-C. Ma, and Q.-K. Xue, Interface-enhanced high-temperature superconductivity in single-unit-cell FeTe1−xSex films onSrTiO3, Phys. Rev. B 91, 220503(R) (2015). 5. Y. C. Tian, W. H. Zhang, F. S. Li, Y. L. Wu, Q. Wu, F. Sun, G. Y. Zhou, L. Wang, X. Ma, Q.-K. Xue, and J. Zhao, Ultrafast Dynamics Evidence of High Temperature Superconductivity in Single Unit Cell FeSe on SrTiO3, Phys. Rev. Lett. 116, 107001 (2016). 6. F. S. Li, L. Tang, W. C. Zhou, and Q. M. Guo, Resolving the Au-Adatom-Alkanethiolate Bonding Site on Au(111) with Domain Boundary Imaging Using High-Resolution Scanning Tunneling Microscopy, J Am Chem Soc 132, 13059 (2010).