个人简介

2002年7月，北京大学物理学院物理学专业理学学士。2007年7月，北京大学物理学院凝聚态物理专业博士，导师为朱星、张朝晖。2007年5月进入中科院苏州纳米所，负责测试分析平台扫描探针实验室的工作，2010年1月被聘为副研究员。

研究领域

1. 微纳米尺度光、电、力学综合测试分析设备和相关技术：基于原子力显微镜的纳尺度表面光电压/电流谱。 2. 宽禁带半导体材料的表面光电性质、与石墨烯等纳米材料形成的界面纳尺度光电性质表征。

代表性专利： 1. 刘争晖，徐耿钊，樊英民，钟海舰，徐科，材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法，发明专利，2011，申请号：201110179440.4 2. 刘争晖、徐耿钊、钟海舰、樊英民、曾雄辉、周桃飞、邱永鑫、王建峰、徐科，半导体材料表面缺陷测量装置及表面缺陷测量方法，发明专利，2011，申请号：201110416220.9 主要成果： 博士期间作为主要完成人之一研制了全国产化的能得到高质量硅表面原子分辨的超高真空扫描隧道显微镜，该设备获得北京大学第四届实验技术成果奖二等奖。应用自制的超高真空扫描隧道显微镜，结合第一性原理计算方法对掺硼硅表面进行了系统的研究，解决了一些长期存在争议的科学问题。 在苏州纳米所期间，作为项目主持人主持国家自然科学科学青年基金一项："基于扫描探针的光电压/电流谱对半导体纳米线局域光伏特性的研究"，作为骨干科研人员参与中科院重大科研装备研制项目"扫描近场光电多功能探针系统"，中科院设备功能创新项目和973项目等多项。采用自主研发的测试分析设备和方法对氮化镓表面局域光电压谱、石墨烯/氮化镓界面进行了深入研究并发表多篇论文。

近期论文

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1. Zhenghui Liu; Ke Xu; Yingmin Fan; Gengzhao Xu; Zengli Huang; Haijian Zhong; Jianfeng Wang & Hui Yang, Local ultra-violet surface photovoltage spectroscopy of single thread dislocations in gallium nitrides by Kelvin probe force microscopy, Applied Physics Letters, 101, 252107, 2012. 2. Haijian Zhong, Zhenghui Liu, Gengzhao Xu, Yingmin Fan, Jianfeng Wang, Xuemin Zhang, Liwei Liu, Ke Xu, and Hui Yang. Self-adaptive electronic contact between graphene and semiconductors. Applied Physics Letters, 100:122108, 2012. (Joint first authors) 3. Gengzhao Xu; Zhenghui Liu; Ke Xu; Yi Zhang; Haijian Zhong; Yingmin Fan & Zengli Huang, Constant current etching of gold tips suitable for tip-enhanced Raman spectroscopy, Review of Scientific Instruments, 83, 103708, 2012. (Joint first authors) 4. Z. H. Liu, Z. H. Zhang, and X. Zhu. Atomic structures of boron-induced protrusion features on si(100) surfaces. Physical Review B, 77:035322, 2008. 5. Z. H. Liu, Y. Z. Guo, Z.H. Zhang, and X. Zhu. Soft control of scanning probe microscope with high flexibility. Scanning, 29:109–113, 2007.