宋建军 - 西安电子科技大学

个人简介

个人简介分别于2005年3月和2008年12月，在西安电子科技大学获得硕士和博士学位，现在西安电子科技大学微电子学院从事微电子专业的科研和教学工作。主持、参与国家部委科研项目多项，在国内外核心刊物及国内外学术会议发表学术论文五十余篇，获授权国家专利多项。科学研究主持、参与的科研项目及成果： 1、ZnO压敏瓷性能提升关键技术研究通过复合纳米添加湿法工艺，成功制备出了高通流能力的ZnO压敏防雷瓷片，该成果已获得应用。 2、Si基外延生长动力学及UHVCVD设备建立了UHVCVD系统应变材料外延生长动力学模型，提出了UHVCVD系统反应室抽真空工艺制度。 3、应变材料能带结构及载流子迁移率研究突破了应变能带kp模型中大量符号Hamilton矩阵本征值的求解问题，提出并实现了应变材料能带结构的解析求解方案；深入研究了应变材料载流子（电子、空穴）各散射机制，建立了应变材料载流子迁移率与晶面、晶向及应力的理论模型。 4、应变MOS反型层能带结构及载流子迁移率研究提出了结合有限差分的包络函数方法，突破了单轴应变SiPMOS反型层价带百阶符号矩阵本征值的算法及实现方法。采用基于三角形势阱近似的包络函数方法，解决了量子化效应致应变NMOS反型层子带电子有效质量变化的关键问题。 5、全平面应变TF-SOIBiCMOS设计与实现 5.1SOISiGeHBT频率特性 SOISiGeHBT特征频率与掺杂浓度、集电极电流之间的关系 SOISiGeHBT最高振荡频率与集电极电流之间的关系 SOISiGeHBT与传统SiGeHBT频率特性比较 5.2SOISiGeHBT线性度 SOISiGeHBT正向厄利电压与集电区掺杂浓度及BC结反偏电压之间的关系 SOISiGeHBT与传统SiGeHBT正向厄利电压之间的比较 SOISiGeHBT反向厄利电压与EB结反偏电压之间的关系 5.3全平面应变BiCMOS设计专利 [1]宋建军、王冠宇、张鹤鸣、胡辉勇、宣荣喜、周春宇。异质金属堆叠栅SSGOIpMOSFET器件结构（ZL2013021600354890，授权时间：2013年2月） [2]宋建军、王冠宇、张鹤鸣、胡辉勇、宣荣喜。多晶Si1-xGex/金属并列覆盖双栅SSGOInMOSFET器件结构（ZL2012121300772960，授权时间：2013年1月） [3]宋建军、王冠宇、张鹤鸣、胡辉勇、宣荣喜、周春宇。一种垂直交叉堆叠栅应变SiGeC量子阱沟道CMOS器件结构（ZL2013011500354830，授权时间：2013年2月）荣誉获奖应变Si材料与CMOS关键技术研究，教育部科学技术进步二等奖。科研团队硕士研究生 2012级：杨超，胡时舜，张波，曹世伟 2013级：朱贺，李佳楠，刘亚光，田春雷，张延年课程教学目前本人承担的教学任务：量子力学

研究领域

1．半导体器件与电路仿真技术基于硅基器件与电路的设计与仿真，研究建立硅基器件等效电路模型及其参数模型，制定参数提取策略和方法、实现器件模型参数的提取和仿真。该方向培养的学生基础扎实、实践能力强，就业前景好。 2．低维半导体材料及器件物理基于量子理论及固体物理，重点研究1维、2维半导体材料物理及器件电学特性。该方向培养的学生理论功底扎实，进一步深造的前景好。

近期论文

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Sci检索期刊论文 [1]SongJianjun,ZhangHeming,HuHuiyong,DaiXianying,andXuanRongxi,DeterminationofconductionbandedgecharacteristicsofstrainedSi/Si1-xGex,ChinesePhysics，200716(12):3827-3831 [2]宋建军、张鹤鸣、戴显英、胡辉勇、宣荣喜，第一性原理研究应变Si/(111)Si1-xGex能带结构，物理学报，200857(9):5918-5922 [3]宋建军、张鹤鸣、戴显英、胡辉勇、宣荣喜，应变Si价带色散关系模型，物理学报，200857(11):7228-7232 [4]SongJianJun，ZhangHeMing，HuHuiYong，FuQiang，Calculationofbandstructurein(101)-biaxiallystrainedSi，ScienceInChina，200952(4):546-550 [5]宋建军，张鹤鸣，胡辉勇，宣荣喜，戴显英，应变Si1-xGex能带结构研究，物理学报，200958(11):7947-7951 [6]宋建军，张鹤鸣，宣荣喜，胡辉勇，戴显英，应变Si/(001)Si1-xGex空穴有效质量各向异性，物理学报，200958(7)：4958-4961 [7]宋建军，张鹤鸣，胡辉勇，宣荣喜，戴显英，应变Si1-xGex/(111)Si空穴有效质量模型，物理学报，201059(1):579-582 [8]宋建军，张鹤鸣，胡辉勇，戴显英，宣荣喜，应变Si/(001)Si1-xGex本征载流子浓度模型，物理学报，201059(3):2064~2067 [9]SongJianJun，ZhangHeMing，HuHuiYong，DaiXianYing,XuanRongxi,ValencebandstructureofstrainedSi/(111)Si1-xGex,ScienceInChina,201053(3):454~457 [10]宋建军，张鹤鸣，戴显英，宣荣喜，胡辉勇，不同晶系应变Si状态密度研究，物理学报，201160(4):047106 [11]宋建军，张鹤鸣，胡辉勇，王晓艳，王冠宇，四方晶系应变Si空穴散射机制，物理学报，201261(5):057304 [12]SONGJianJun,ZHANGHeMing,HUHuiYong,WANGXiaoYan&WANGGuanYu,HoleMobilityEnhancementofSibyRhombohedralStrain,ScienceinChina,PhysicsMechanicsandAstronomy,201255(8):1399-1403 [13]SONGJianJun,YANGChao,ZHANGHeMing,HUHuiYong,ZHOUCHunYu&WANGBin,Longitudinal,Transverse,Density-of-States,andConductivityMassesofElectronin(001),(101)and(111)Biaxially-Strained-SiandStrained-Si1-xGex,ScienceinChina,PhysicsMechanicsandAstronomy,201255(11):2033-2037 [14]SongJian-Jun,YangChao,WangGuan-Yu,ZhouChun-Yu,WangBin,HuHui-Yong,andZhangHe-Ming，ConductionBandModelof[110]/(001)UniaxiallyStrainedSi，JapaneseJournalofAppliedPhysics,201251(10):104301 [15]SongJian-Jun,YangChao,HuHui-Yong,DaiXian-Ying,WangChengandZhangHe-Ming，PenetrationDepthatVariousRamanExcitationWavelengthsandStressModelforRamanSpectruminBiaxially-StrainedSi,ScienceinChina,PhysicsMechanicsandAstronomy,201356(11):1–6 [16]宋建军，杨超，朱贺，张鹤鸣，宣荣喜，胡辉勇，舒斌，SOISiGeHBT结构设计及频率特性研究，物理学报 Ei检索期刊论文 [1]宋建军，张鹤鸣，舒斌，胡辉勇，戴显英，K.PdispersionrelationnearΔivalleyinStrainedSi1-xGex/Si，半导体学报，200829(3)442-446 [2]SongJianjun,ZhangHeming,HuHuiyong,DaiXianYing,XuanRongxi,ChineseJournalofSemiconductors,CalculationofbandedgelevelsofstrainedSi/(111)Si1-xGex,201031(1):012001-3 [3]SongJianjun,ZhangHeming,DaiXianying,HuHuiyongandXuanRongxi,ChineseJournalofSemiconductors,Bandedgemodelof(101)-biaxialstrainedSi,200829(9):1670-1673 [4]SongJianjun,zhuHe,ZhangHeming,DaiXianying,HuHuiyongandXuanRongxi,ModelofAveragedHoleMobilityofBiaxiallyStrainedSi,Journalofsemiconductor,201334(8):1-4 ISTP检索会议论文 [1]JianJunSong,HeMingZhang,HuiYongHu,XianYingDai,RongXiXuan,StudyonHoleEffectiveMassofStrainedSi1-xGex/(101)Si，IEEEInternationalConferenceonElectronDevicesandSolid-StateCircuits,2009,Xi’an [2]Jian-JunSong,He-MingZhang,Hui-YongHu,Xian-YingDai,Rong-XiXuan,IntrinsiccarrierconcentrationinstrainedSi1-xGex/(101)Si,MaterialsScienceForum2011663-665:470-472 [3]Jian-JunSong,Heng-ShengShan,He-MingZhang,Hui-YongHu,Xian-YingDai,Rong-XiXuan,ModelofDOSneartheTopofValenceBandinStrainedSi1-xGex/(001)Si,AppliedMechanicsandMaterials,201155-57:979-982 [4]JianJunSong,SunLiu,HeMingZhang,DesignandimplementationofHigh-SpeedDual-Modulus,AppliedMechanicsandMaterials2012109:271-275 [5]Jian-JunSong,Hua-YingWu,He-MingZhang,ModelofelectronscatteringofstrainedSi/Si1-xGex(100),AppliedMechanicsandMaterials2012110-1163338-3342 [6]ian-junSong,ShuaiLei,He-mingZhang,AnisotropicHoleMobilityinStrainedSi1-xGex/(001)Si,SolidStatePhenomena2012181-182:388-392