个人简介
招生专业
080902-电路与系统
080903-微电子学与固体电子学
085400-电子信息
招生方向
电子系统设计自动化
多尺度多物理工艺建模
教育背景
2008-09--2011-07 北京化工大学 研究生/工学博士
2006-09--2008-07 北京化工大学 研究生/理学硕士
2000-09--2004-07 吉林大学 本科/理学学士
工作简历
2011-07~现在, 中国科学院微电子研究所, 助理研究员,副研究员
2008-09~2011-07,北京化工大学, 研究生/工学博士
2006-09~2008-07,北京化工大学, 研究生/理学硕士
2000-09~2004-07,吉林大学, 本科/理学学士
奖励信息
(1) 28nm及特色先导工艺集成电路设计产业化关键技术与应用, 三等奖, 省级, 2018
(2) 28nm及先导工艺集成电路可制造性设计关键技术及应用, 二等奖, 省级, 2018
专利成果
( 1 ) 铝金属栅化学机械研磨去除率的确定方法和系统, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201210335433.3
( 2 ) CMP仿真模型中研磨垫与芯片表面接触压力的计算方法, 2017, 第 1 作者, 专利号: CN201410240641.4
( 3 ) 化学机械抛光研磨液动压分布和研磨去除率的确定方法, 2013, 第 1 作者, 专利号: CN201110388504.1
( 4 ) 一种抛光粒子的设计方法、抛光粒子及研磨液, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201610115165.2
( 5 ) 一种化学机械研磨液配置优化的方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201310150633.6
( 6 ) 一种沟槽淀积表面形貌仿真的方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201510158767.1
( 7 ) 一种FinFET器件浅沟道隔离的平坦化仿真方法及系统, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201710339900.2
( 8 ) 一种CMP仿真模型的建立方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201710606884.9
( 9 ) 一种铝栅CMP协同计算模型的仿真及优化方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201210581845.5
( 10 ) 一种CMP模型参数优化方法和装置, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201610561883.2
( 11 ) 确定铝金属栅芯片表面形貌的方法和系统, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201210564162.9
( 12 ) 基于浅沟道隔离技术的化学机械研磨终点检测方法及系统, 2014, 第 1 作者, 专利号: CN201110335135.X
( 13 ) 一种CMP离散数据曲面重构方法及装置, 2020, 第 1 作者, 专利号: CN201810959807.6
( 14 ) 一种两组分研磨粒子CMP建模仿真方法, 2020, 第 1 作者, 专利号: CN201911299471.6
( 15 ) 一种计算CMP研磨去除率的方法及装置, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201910240996.6
( 16 ) 一种FinFET器件的CMP工艺建模方法, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201611193180.5
( 17 ) 一种芯片表面形貌仿真的方法及装置, 2016, 第 1 作者, 专利号: CN201310092423.6
( 18 ) 一种化学机械研磨工艺中晶圆表面清洗液配置的优化方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201310150619.6
( 19 ) 化学机械研磨去除率计算的方法及设备, 2016, 第 1 作者, 专利号: CN201210301195.4
( 20 ) 一种表面形貌仿真的方法及系统, 2017, 第 1 作者, 专利号: CN201510388766.6
( 21 ) 一种CMP工艺仿真方法和系统, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201610865739.8
( 22 ) 芯片表面接触压力计算方法及变尺度可制造性设计方法, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201410717667.3
( 23 ) 一种W CMP多物理工艺仿真方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201910086996.5
( 24 ) 一种CMP工艺仿真方法及仿真系统, 2017, 第 1 作者, 专利号: CN201610115438.3
( 25 ) 一种高分子表面活性剂的结构稳定性判断方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201610121239.3
( 26 ) 计算晶圆表面研磨去除率的方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201210458982.X
( 27 ) 一种预测表面活性剂热力学性质的方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201510401715.2
( 28 ) 一种化学机械研磨液配置优化的方法, 2016, 第 1 作者, 专利号: CN201310150555.X
( 29 ) 一种高k金属栅表面形貌仿真的方法及系统, 2017, 第 1 作者, 专利号: CN201610116482.6
( 30 ) 一种可制造性设计仿真器设计方法及系统, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201610052912.2
( 31 ) 一种CMP工艺仿真方法和系统, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201810290687.5
( 32 ) 一种高k金属栅的化学机械研磨工艺建模方法和装置, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201710325974.0
( 33 ) 一种CMP研磨率计算方法和仿真系统, 2020, 第 1 作者, 专利号: CN201911299451.9
( 34 ) CMP芯片表面形貌仿真模型的实现方法及仿真系统, 2020, 第 1 作者, 专利号: 202010983030.4
( 35 ) CMP研磨率的优化方法和优化控制系统, 2020, 第 1 作者, 专利号: 202010072974.6
科研项目
( 1 ) 多尺度跨层融合电路精确仿真技术, 参与, 部委级, 2019-08--2022-07
( 2 ) 先进EDA工具, 参与, 部委级, 2019-09--2022-08
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(1) A Neural Network-Based Approach to Material Removal Rate Prediction for Copper Chemical Mechanical Planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2021, 第 1 作者
(2) A Wafer-Scale Material Removal Rate Model for Chemical Mechanical Planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2020, 第 1 作者
(3) A material removal rate model for tungsten chemical mechanical planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2019, 第 1 作者
(4) A Wafer-Scale Material Removal Rate Model for Chemical Mechanical Planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2019, 第 1 作者
(5) Effect of non-ionic surfactant on chemical mechanical planarization performance in alkaline copper slurry, Int. J. Prec. Eng. Manuf., 2018, 第 1 作者
(6) An oxide chemical mechanical planarization model for HKMG structures, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2018, 第 2 作者
(7) Integral equation prediction of the structure of alternating copolymer nanocomposites near a substrate, langmuir, 2018, 第 1 作者
(8) Influence of slurry components on copper CMP performance in alkaline slurry, Microelectron. Eng., 2017, 第 1 作者
(9) Phase separation of comb polymer nanocomposites, Soft Matter, 2016, 第 1 作者
(10) Integral equation prediction of structure of nanocomposites with polymer-grafted nanoparticles near solid surface, Polymer, 2016, 第 1 作者
(11) A chip-scale chemical mechanical planarization model for copper interconnect structures, Microelectron. Eng., 2016, 第 1 作者
(12) A Chemical Mechanical Planarization Model Including Global Pressure Distribution and Feature Size Effects, IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, 2016, 第 2 作者
(13) A Material Removal Rate Model for Aluminum Gate Chemical Mechanical Planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2015, 第 1 作者
(14) A chemical mechanical planarization model for aluminum gate structures, Microelectron. Eng., 2014, 第 1 作者
(15) Integral equation theory for atactic polystyrene nanocomposite melts with a multi-site model, THE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2014, 第 1 作者
(16) Structure and effective interactions of comb polymer nanocomposite melts, THE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2014, 第 1 作者
(17) An Aluminum Gate Chemical Mechanical Planarization Model for HKMG Process Incorporating Chemical and Mechanical Effects, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2014, 第 1 作者
(18) Thermodynamics of Ice Nucleation in Liquid Water, The Journal of Physical Chemistry B, 2014, 第 3 作者
(19) A Feature-Scale Greenwood–Williamson Model for Metal Chemical Mechanical Planarization, Journal of ELECTRONIC MATERIALS, 2013, 第 1 作者
(20) Structure of poly(ethylene glycol)-water mixture studied by polymer reference interaction site model theory., THE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2010, 第 1 作者
(21) Integral Equation Theory for Gas Sorption and Swelling of Glassy Atactic Polystyrene, Industrial & Engineering Chemistry Research, 2010, 第 1 作者
(22) Description of the Structure of Polystyrene with Six-Site Semiflexible Model, Macromolecules, 2009, 第 1 作者
(23) Improved radial distribution functions for Coulomb charged fluid based on first-order mean spherical approximation, THE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2008, 第 1 作者