当前位置: X-MOL首页全球导师 国内导师 › 徐勤志

个人简介

招生专业 080902-电路与系统 080903-微电子学与固体电子学 085400-电子信息 招生方向 电子系统设计自动化 多尺度多物理工艺建模 教育背景 2008-09--2011-07 北京化工大学 研究生/工学博士 2006-09--2008-07 北京化工大学 研究生/理学硕士 2000-09--2004-07 吉林大学 本科/理学学士 工作简历 2011-07~现在, 中国科学院微电子研究所, 助理研究员,副研究员 2008-09~2011-07,北京化工大学, 研究生/工学博士 2006-09~2008-07,北京化工大学, 研究生/理学硕士 2000-09~2004-07,吉林大学, 本科/理学学士 奖励信息 (1) 28nm及特色先导工艺集成电路设计产业化关键技术与应用, 三等奖, 省级, 2018 (2) 28nm及先导工艺集成电路可制造性设计关键技术及应用, 二等奖, 省级, 2018 专利成果 ( 1 ) 铝金属栅化学机械研磨去除率的确定方法和系统, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201210335433.3 ( 2 ) CMP仿真模型中研磨垫与芯片表面接触压力的计算方法, 2017, 第 1 作者, 专利号: CN201410240641.4 ( 3 ) 化学机械抛光研磨液动压分布和研磨去除率的确定方法, 2013, 第 1 作者, 专利号: CN201110388504.1 ( 4 ) 一种抛光粒子的设计方法、抛光粒子及研磨液, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201610115165.2 ( 5 ) 一种化学机械研磨液配置优化的方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201310150633.6 ( 6 ) 一种沟槽淀积表面形貌仿真的方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201510158767.1 ( 7 ) 一种FinFET器件浅沟道隔离的平坦化仿真方法及系统, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201710339900.2 ( 8 ) 一种CMP仿真模型的建立方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201710606884.9 ( 9 ) 一种铝栅CMP协同计算模型的仿真及优化方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201210581845.5 ( 10 ) 一种CMP模型参数优化方法和装置, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201610561883.2 ( 11 ) 确定铝金属栅芯片表面形貌的方法和系统, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201210564162.9 ( 12 ) 基于浅沟道隔离技术的化学机械研磨终点检测方法及系统, 2014, 第 1 作者, 专利号: CN201110335135.X ( 13 ) 一种CMP离散数据曲面重构方法及装置, 2020, 第 1 作者, 专利号: CN201810959807.6 ( 14 ) 一种两组分研磨粒子CMP建模仿真方法, 2020, 第 1 作者, 专利号: CN201911299471.6 ( 15 ) 一种计算CMP研磨去除率的方法及装置, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201910240996.6 ( 16 ) 一种FinFET器件的CMP工艺建模方法, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201611193180.5 ( 17 ) 一种芯片表面形貌仿真的方法及装置, 2016, 第 1 作者, 专利号: CN201310092423.6 ( 18 ) 一种化学机械研磨工艺中晶圆表面清洗液配置的优化方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201310150619.6 ( 19 ) 化学机械研磨去除率计算的方法及设备, 2016, 第 1 作者, 专利号: CN201210301195.4 ( 20 ) 一种表面形貌仿真的方法及系统, 2017, 第 1 作者, 专利号: CN201510388766.6 ( 21 ) 一种CMP工艺仿真方法和系统, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201610865739.8 ( 22 ) 芯片表面接触压力计算方法及变尺度可制造性设计方法, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201410717667.3 ( 23 ) 一种W CMP多物理工艺仿真方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201910086996.5 ( 24 ) 一种CMP工艺仿真方法及仿真系统, 2017, 第 1 作者, 专利号: CN201610115438.3 ( 25 ) 一种高分子表面活性剂的结构稳定性判断方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201610121239.3 ( 26 ) 计算晶圆表面研磨去除率的方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN201210458982.X ( 27 ) 一种预测表面活性剂热力学性质的方法及系统, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN201510401715.2 ( 28 ) 一种化学机械研磨液配置优化的方法, 2016, 第 1 作者, 专利号: CN201310150555.X ( 29 ) 一种高k金属栅表面形貌仿真的方法及系统, 2017, 第 1 作者, 专利号: CN201610116482.6 ( 30 ) 一种可制造性设计仿真器设计方法及系统, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201610052912.2 ( 31 ) 一种CMP工艺仿真方法和系统, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201810290687.5 ( 32 ) 一种高k金属栅的化学机械研磨工艺建模方法和装置, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN201710325974.0 ( 33 ) 一种CMP研磨率计算方法和仿真系统, 2020, 第 1 作者, 专利号: CN201911299451.9 ( 34 ) CMP芯片表面形貌仿真模型的实现方法及仿真系统, 2020, 第 1 作者, 专利号: 202010983030.4 ( 35 ) CMP研磨率的优化方法和优化控制系统, 2020, 第 1 作者, 专利号: 202010072974.6 科研项目 ( 1 ) 多尺度跨层融合电路精确仿真技术, 参与, 部委级, 2019-08--2022-07 ( 2 ) 先进EDA工具, 参与, 部委级, 2019-09--2022-08

近期论文

查看导师新发文章 (温馨提示:请注意重名现象,建议点开原文通过作者单位确认)

(1) A Neural Network-Based Approach to Material Removal Rate Prediction for Copper Chemical Mechanical Planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2021, 第 1 作者 (2) A Wafer-Scale Material Removal Rate Model for Chemical Mechanical Planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2020, 第 1 作者 (3) A material removal rate model for tungsten chemical mechanical planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2019, 第 1 作者 (4) A Wafer-Scale Material Removal Rate Model for Chemical Mechanical Planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2019, 第 1 作者 (5) Effect of non-ionic surfactant on chemical mechanical planarization performance in alkaline copper slurry, Int. J. Prec. Eng. Manuf., 2018, 第 1 作者 (6) An oxide chemical mechanical planarization model for HKMG structures, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2018, 第 2 作者 (7) Integral equation prediction of the structure of alternating copolymer nanocomposites near a substrate, langmuir, 2018, 第 1 作者 (8) Influence of slurry components on copper CMP performance in alkaline slurry, Microelectron. Eng., 2017, 第 1 作者 (9) Phase separation of comb polymer nanocomposites, Soft Matter, 2016, 第 1 作者 (10) Integral equation prediction of structure of nanocomposites with polymer-grafted nanoparticles near solid surface, Polymer, 2016, 第 1 作者 (11) A chip-scale chemical mechanical planarization model for copper interconnect structures, Microelectron. Eng., 2016, 第 1 作者 (12) A Chemical Mechanical Planarization Model Including Global Pressure Distribution and Feature Size Effects, IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, 2016, 第 2 作者 (13) A Material Removal Rate Model for Aluminum Gate Chemical Mechanical Planarization, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2015, 第 1 作者 (14) A chemical mechanical planarization model for aluminum gate structures, Microelectron. Eng., 2014, 第 1 作者 (15) Integral equation theory for atactic polystyrene nanocomposite melts with a multi-site model, THE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2014, 第 1 作者 (16) Structure and effective interactions of comb polymer nanocomposite melts, THE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2014, 第 1 作者 (17) An Aluminum Gate Chemical Mechanical Planarization Model for HKMG Process Incorporating Chemical and Mechanical Effects, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2014, 第 1 作者 (18) Thermodynamics of Ice Nucleation in Liquid Water, The Journal of Physical Chemistry B, 2014, 第 3 作者 (19) A Feature-Scale Greenwood–Williamson Model for Metal Chemical Mechanical Planarization, Journal of ELECTRONIC MATERIALS, 2013, 第 1 作者 (20) Structure of poly(ethylene glycol)-water mixture studied by polymer reference interaction site model theory., THE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2010, 第 1 作者 (21) Integral Equation Theory for Gas Sorption and Swelling of Glassy Atactic Polystyrene, Industrial & Engineering Chemistry Research, 2010, 第 1 作者 (22) Description of the Structure of Polystyrene with Six-Site Semiflexible Model, Macromolecules, 2009, 第 1 作者 (23) Improved radial distribution functions for Coulomb charged fluid based on first-order mean spherical approximation, THE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2008, 第 1 作者

推荐链接
down
wechat
bug