个人简介
教育背景
2006年,美国维恩州立大学,材料科学与工程,博士
1994年,美国维恩州立大学,材料科学与工程,硕士
1992年,美国维恩州立大学,物理,硕士
1983年,西南大学,物理,学士
工作简历
2012年-至今,中国科学院微电子研究所,研究员,博士生导师
2007年-2012年,美国飞思卡尔半导体公司,项目经理,高级工程师
2003年-2007年,美国倒装芯片国际有限公司,高级研发工程师
1998年-2003年,美国朗讯科技有限公司,研究员
1997年-1998年,美国数字设备公司,高级工程师
1995年-1997年,美国AVX公司,高级研发工程师
1994年-1995年,美国通用汽车公司,工程师
1983年-1991年,西南大学,助教,讲师
研究领域
先进微电子封装,MEMS器件封装,光电器件封装等
科研项目
(1)车用多传感器系统关键技术研究,主持,部委级,2013-11--2016-11
(2)三维柔性基板及工业技术研发与产业化,参与,国家级,2011-01--2014-06
(3)三维系统及封装先导技术研究联合研发中心建设,参与,国家级,2013-01--2014-06
(4)高密度三维系统集成技术开发与产业化,参与,国家级,2014-01--2016-12
(5)基于柔性基板的磁性传感器3D封装,主持,市地级,2012-06--2014-07
参与会议
(1)TheReliabilityStudyofaHighdensityMultiChipPackagingwithFoldingFlexibleSubstrateWenYin,BoZhang,YuanLu,AnmouLiao,TianminDu,DongkaiShangguan2013-08-12
(2)ThePreparationandPropertiesofBaTiO3-carbonNanotube/PolyimideThree-phaseCompositesbyIn-SituPolymerizationforFlexblePackageCircuitBoZhang,WenYin,YuanLu,LixiWan2012-08-13
专利成果
(1)台阶型微凸点结构及其制备方法,2013,第2作者,专利号:201310232602.5
(2)一种柔性基板多层封装装置,2013,第2作者,专利号:201310237662.6
(3)一种柔性基板封装的装置,2013,第2作者,专利号:201310237551.5
(4)一种改进的柔性基板封装装置,2013,第2作者,专利号:201310237582.0
(5)堆叠封装器件,2013,第2作者,专利号:201310242862.0
(6)一种细间距POP式封装结构和封装方法,2013,第2作者,专利号:201310258430.9
(7)细间距POP式封装结构和封装方法,2013,第2作者,专利号:201310256977.5
(8)包含铜柱的细间距叠层封装结构和封装方法,2013,第2作者,专利号:201310324237.0
(9)一种柔性基板封装结构及其封灌工艺,2013,第3作者,专利号:201310334154.X
(10)柔性基板封装结构及其封灌方法,2013,第3作者,专利号:201310334122.X
(11)一种用于柔性基板封装的简易弯折装置,2013,第3作者,专利号:201310333718.8
(12)用于多屏蔽芯片的三维柔性基板封装结构及制作方法,2013,第4作者,专利号:201310542832.1
(13)三维柔性基板电磁屏蔽封装结构及制作方法,2013,第4作者,专利号:201310542882.X
(14)改进的小间距塑封的封装结构及封装方法,2013,第2作者,专利号:201310534603.5
(15)一种基于柔性基板的三维多芯片存储系统封装结构及其制作方法,2013,第2作者,专利号:201310721150.1
(16)SOLDERBUMPINTERCONNECTFORIMPROVEDMECHANICALANDTHERMOMECHANICALPERFORMANCE,2011,第2作者,专利号:US7973418B2
(17)一种用于柔性基板封装的简易弯折装置,2013,第3作者,专利号:201320469845.6
近期论文
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(1)ANew2.5DTSVAssemblyApproach,ProceedingsofElectronicsComponentsandTechnologyConference2013,2013,第1作者
(2)UsingHighSpeedShearandColdBallPulltoCharacterizeLeadFreeSolderAlloysandSimulateBoardLevelDropTestPerformance,ProceedingsofElectronicsComponentsandTechnologyConference2007,2007,第2作者
(3)EffectofAgContentontheMicrostructureDevelopmentofSn-Ag-CuInterconnects,JournalofMaterialsScience:MaterialsinElectronics,2006,第1作者
(4)MicrostructureEvolutionoftheSn-Ag-yCuInterconnect,MicroelectrnicsRelability,2006,第1作者
(5)SolidStatReactions:TheEffectofCuContentonSn-Ag-CuINterconnects,JournalofMaterials,2005,第1作者
(6)ImpactofCucontentontheSn-Ag-CuInterconnects,ProceedingsofElectronicsComponentsandTechnologyConference2005,2005,第1作者