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用动态透射电子显微镜测得
的相变材料GeSb 6 Te的结晶动力学†
Dalton Transactions ( IF 3.5 ) Pub Date : 2016-03-30 00:00:00 , DOI: 10.1039/c6dt00298f
M. M. Winseck 1, 2, 3, 4, 5 , H.-Y. Cheng 6, 7, 8, 9, 10 , G. H. Campbell 11, 12, 13, 14 , M. K. Santala 1, 2, 3, 4, 5
Dalton Transactions ( IF 3.5 ) Pub Date : 2016-03-30 00:00:00 , DOI: 10.1039/c6dt00298f
M. M. Winseck 1, 2, 3, 4, 5 , H.-Y. Cheng 6, 7, 8, 9, 10 , G. H. Campbell 11, 12, 13, 14 , M. K. Santala 1, 2, 3, 4, 5
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GeSb 6 Te是一种基于硫族化物的相变材料，具有很大的潜力，可用于固态存储设备。动态透射电子显微镜是一种具有纳秒级时间分辨率的光发射电子显微镜技术，用于跟踪激光晶化过程中GeSb 6 Te非晶薄膜的晶化动力学。在激光结晶过程中拍摄了九帧晶体生长的影片。观察到成核速率非常低并且生长速率非常高，高达10.8 ms -1对于非晶态沉积膜而言，其含量要高得多；对于在结晶前经过亚阈值激光退火的非晶态膜而言，其含量要高得多。测得的生长速率超过任何直接测量的相变材料的生长速率。无论是在生长速度的大小上还是在所形成的晶体微观结构上，该结晶都让人联想到元素半导体的爆炸性结晶。
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更新日期：2016-03-30
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