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Zero-Dimensional Cs2TeI6 Perovskite: Solution-Processed Thick Films with High X-ray Sensitivity
ACS Photonics ( IF 6.5 ) Pub Date : 2018-12-19 00:00:00 , DOI: 10.1021/acsphotonics.8b01425 Yadong Xu 1 , Bo Jiao , Tze-Bin Song , Constantinos C. Stoumpos , Yihui He , Ido Hadar , Wenwen Lin , Wanqi Jie 1 , Mercouri G. Kanatzidis
ACS Photonics ( IF 6.5 ) Pub Date : 2018-12-19 00:00:00 , DOI: 10.1021/acsphotonics.8b01425 Yadong Xu 1 , Bo Jiao , Tze-Bin Song , Constantinos C. Stoumpos , Yihui He , Ido Hadar , Wenwen Lin , Wanqi Jie 1 , Mercouri G. Kanatzidis
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We demonstrate a potential candidate, the 0D “all-inorganic” perovskite material Cs2TeI6, as a sensitive all-inorganic X-ray photoconductor for the development of the new generation of direct photon-to-current conversion flat-panel X-ray imagers. Cs2TeI6 consists of high atomic number elements, has high electrical resistance, and exhibits high air and moisture stability, making it suitable as a sensitive X-ray photoconductor. In addition, we identify that Cs2TeI6 film can be prepared under a low-temperature process using electrostatic-assisted spray technique under atmospheric conditions and achieved resistivity of 4.2 × 1010 Ω·cm. The resulting air- and water-stable Cs2TeI6 device exhibits a strong photoresponse to X-ray radiation. An electron drift length on the order of 200 μm is estimated under an applied electrical field strength of 400 V·cm–1. A high sensitivity for Cs2TeI6 thick film device is realized, with the value of 192 nC·R–1cm–2 under 40 kVp X-rays at an electrical field of 250 V·cm–1, which is ∼20 times higher than that of the hybrid 3D perovskite polycrystalline film X-ray detectors. X-ray imaging based on Cs2TeI6 perovskite films will require lower radiation doses in many medical and security check applications.
中文翻译：
零维Cs 2 TeI 6钙钛矿：具有高X射线敏感性的固溶处理厚膜
我们展示了一种潜在的候选物，一种0D“全无机”钙钛矿材料Cs 2 TeI 6，作为一种敏感的全无机X射线光电导体，用于开发新一代直接光子-电流转换平板X-射线成像仪。Cs 2 TeI 6由高原子序数的元素组成，具有高电阻，并具有高的空气和湿气稳定性，使其适合用作敏感的X射线光电导体。此外，我们确定可以在大气条件下使用静电辅助喷涂技术在低温工艺下制备Cs 2 TeI 6膜，并且电阻率为4.2×10 10Ω·cm。所得的空气和水稳定的Cs 2 TeI 6器件对X射线辐射表现出强烈的光响应。在施加的电场强度为400 V·cm –1的情况下，估计电子漂移长度约为200μm 。针对CS的高灵敏度2的Tel 6厚膜设备被实现，拥有192个NC的·R的值-1厘米-2下40 kVp的X射线，在250 V·cm的电场-1，这是约20倍高于混合型3D钙钛矿多晶膜X射线探测器。基于Cs 2 TeI 6的X射线成像 钙钛矿薄膜在许多医学和安全检查应用中将需要较低的辐射剂量。
更新日期：2018-12-19
中文翻译：
零维Cs 2 TeI 6钙钛矿：具有高X射线敏感性的固溶处理厚膜
我们展示了一种潜在的候选物，一种0D“全无机”钙钛矿材料Cs 2 TeI 6，作为一种敏感的全无机X射线光电导体，用于开发新一代直接光子-电流转换平板X-射线成像仪。Cs 2 TeI 6由高原子序数的元素组成，具有高电阻，并具有高的空气和湿气稳定性，使其适合用作敏感的X射线光电导体。此外，我们确定可以在大气条件下使用静电辅助喷涂技术在低温工艺下制备Cs 2 TeI 6膜，并且电阻率为4.2×10 10Ω·cm。所得的空气和水稳定的Cs 2 TeI 6器件对X射线辐射表现出强烈的光响应。在施加的电场强度为400 V·cm –1的情况下，估计电子漂移长度约为200μm 。针对CS的高灵敏度2的Tel 6厚膜设备被实现，拥有192个NC的·R的值-1厘米-2下40 kVp的X射线，在250 V·cm的电场-1，这是约20倍高于混合型3D钙钛矿多晶膜X射线探测器。基于Cs 2 TeI 6的X射线成像 钙钛矿薄膜在许多医学和安全检查应用中将需要较低的辐射剂量。
京公网安备 11010802027423号