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再谈PbS量子点薄膜的价和导带尺寸依赖性
ACS Nano ( IF 15.8 ) Pub Date : 2016-02-26 00:00:00 , DOI: 10.1021/acsnano.5b06833
Elisa M. Miller 1 , Daniel M. Kroupa 1, 2 , Jianbing Zhang 1 , Philip Schulz 3 , Ashley R. Marshall 1, 2 , Antoine Kahn 3 , Stephan Lany 1 , Joseph M. Luther 1 , Matthew C. Beard 1 , Craig L. Perkins 1 , Jao van de Lagemaat 1
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我们使用块状PbS的高信噪比X射线光电子能谱,GW计算以及假设抛物线的模型来揭示块状PbS的各种X射线和紫外光电子能谱特征,并确定如何进行最佳分析PbS量子点(QD)薄膜的价带区域。X射线和紫外光电子能谱(XPS和UPS)通常用于探测晶体半导体和薄膜半导体的费米能级和价带最大值(VBM)之间的差异。但是,我们发现,当将标准XPS / UPS分析用于PbS时,由于VBM处的状态密度低,结果通常不切实际。取而代之的是,使用抛物线能带模型来确定PbS QD薄膜的VBM,该模型基于整体PbS实验光谱和整体GW计算。我们的分析突出了大带隙,高量子限制的PbS QD的能带图的布里渊带表示形式的细分。我们还确定,在1,2-乙二硫醇处理过的PbS QD薄膜中,费米能级位置取决于QD尺寸。具体地,对于较大的带隙PbS QD膜,最小的带隙QD膜具有接近导带最小值的费米能级,并且费米能级远离导带移动。QD带隙内费米能级的这种变化可能是由于Pb:S比的变化所致。另外,我们使用逆光电子能谱法测量导带区域,由于接近导带最小值的低状态密度,在分析PbS QD膜时也面临类似的挑战。



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更新日期:2016-02-26
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