高分辨率吸收光谱法是一种用于非侵入式过程监控的有前途的方法，但是评估数据所需的计算量在高速，实时应用中可能会被禁止。这项研究提出了一种从透射强度信号估算吸收光谱的快速方法。我们使用贝叶斯统计量将测量模型与有关基线强度和吸收光谱的形状的先验信息相结合。由此产生的线性最小二乘问题将大部分计算工作转移到了准备步骤，从而便于快速处理和低延迟的任何数量的测量。该方法在具有附加噪声和波动条纹的模拟可调谐二极管激光吸收光谱数据上得到了证明。



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