本研究的目的是使用XANES / EXAFS光谱法确定受污染的稻田和稻米中Cd的分布和形态。利用FE-SEM和XRD技术研究了水稻和土壤的形态和结晶。土壤和水稻籽粒中Cd的EXAFS光谱表明，土壤和水稻籽粒中的镉氧化物（CdO）形成了Cd团簇，其Cd-O键距分别为2.35Å和2.83Å（配位数为2.3和4.2）。X射线衍射图谱表明，检测到的主要成分是氧化硅（SiO2，2θ= 24.2）和氧化铝（Al2O3，2θ= 35.7）。FE-SEM分析表明，稻米颗粒的表面特征和大小光滑且不均匀，粒径为0.5-4μm，而土壤颗粒不均匀且聚集。此外，还检查了在受污染的稻田和水稻作物中积累的有毒金属/准金属（Cd，Pb，Cr，Ni，As，Cu和Zn）的分布。有趣的是，这些结果提供了对受污染的水稻耕作土壤和水稻作物中重金属积累机制和分布的深刻见解。



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