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卤化铅钙钛矿 XPS 分析过程中 Pb(0) 伪影的来源
Materials Letters ( IF 2.7 ) Pub Date : 2019-09-01 , DOI: 10.1016/j.matlet.2019.04.081
James D. McGettrick , Katherine Hooper , Adam Pockett , Jenny Baker , Joel Troughton , Matthew Carnie , Trystan Watson
Materials Letters ( IF 2.7 ) Pub Date : 2019-09-01 , DOI: 10.1016/j.matlet.2019.04.081
James D. McGettrick , Katherine Hooper , Adam Pockett , Jenny Baker , Joel Troughton , Matthew Carnie , Trystan Watson
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摘要 甲基铵卤化铅钙钛矿薄膜的 X 射线光电子能谱 (XPS) 光谱通常显示存在作为 Pb(II) 的铅，但也经常观察到 Pb(0)，这可能会影响对器件物理的解释。在本文中，最初不含 Pb(0) 的甲基铵卤化铅薄膜证明了 Pb(0) 峰的可重现演变，这些峰很可能是在典型 XPS 分析条件下产生的人工制品。Pb(0) 的演变是通过 (1) 在典型分析条件下的 X 射线光解和 (2) 与由于薄膜在空气中老化而导致的其他化学变化一起发生的。在这两种情况下，我们都注意到 PbI2 的存在是导致原位反应生成 Pb(0) 伪影的常见因素。
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更新日期：2019-09-01
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