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使用浅核心水平的XPS定量分析铀氧化态的细微变化
Physical Chemistry Chemical Physics ( IF 2.9 ) Pub Date : 2017-10-31 00:00:00 , DOI: 10.1039/c7cp05805e
Eugene S. Ilton 1, 2, 3 , Yingge Du 1, 2, 3 , Joanne E. Stubbs 3, 4, 5, 6 , Peter J. Eng 3, 4, 5, 6, 7 , Anne M. Chaka 1, 2, 3 , John R. Bargar 3, 8, 9 , Connie J. Nelin 3, 10, 11 , Paul S. Bagus 3, 12, 13, 14
Physical Chemistry Chemical Physics ( IF 2.9 ) Pub Date : 2017-10-31 00:00:00 , DOI: 10.1039/c7cp05805e
Eugene S. Ilton 1, 2, 3 , Yingge Du 1, 2, 3 , Joanne E. Stubbs 3, 4, 5, 6 , Peter J. Eng 3, 4, 5, 6, 7 , Anne M. Chaka 1, 2, 3 , John R. Bargar 3, 8, 9 , Connie J. Nelin 3, 10, 11 , Paul S. Bagus 3, 12, 13, 14
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U 4f线通常用于通过X射线光电子能谱（XPS）确定铀的氧化态。相反，很少记录到铀的浅核心水平的XPS。尽管如此，理论表明，U 5d（和5p）多重结构对氧化态非常敏感。在此贡献中，我们分别从接近化学计量的和氧化的UO 2单晶样品中提取了U（IV）和U（V）5d XPS峰形，其中通过拟合4f线限制了U的氧化态。根据经验提取的5d光谱类似于理论上确定的多重结构，并与相对简单的U（VI）受理论约束的成分，以确定UO 2+ x样品的氧化态。结果表明，由5d和4f线确定的氧化态之间具有非常强的相关性，表明5d可能比4f对少量氧化更敏感。讨论了该方法的局限性以及相对于4f线使用5d的优势。
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更新日期：2017-11-08
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