Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your
feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
CoO掺杂的CeO2纳米晶体中掺杂物配位重排引起的显着带隙减小。
Scientific Reports ( IF 3.8 ) Pub Date : 2017-07-05 , DOI: 10.1038/s41598-017-05046-0 T. S. Wu , Y. W. Chen , S. C. Weng , C. N. Lin , C. H. Lai , Y. J. Huang , H. T. Jeng , S. L. Chang , Y. L. Soo
Scientific Reports ( IF 3.8 ) Pub Date : 2017-07-05 , DOI: 10.1038/s41598-017-05046-0 T. S. Wu , Y. W. Chen , S. C. Weng , C. N. Lin , C. H. Lai , Y. J. Huang , H. T. Jeng , S. L. Chang , Y. L. Soo
|
在共掺杂的CeO 2纳米晶体中观察到1.61 eV的显着带隙变窄（二氧化铈）作为热退火的结果，而不会改变二氧化铈的晶体结构和Co浓度。如X射线吸收精细结构所示，热退火导致Co原子周围的氧配位重排从八面体配位变为方平面配位。使用密度泛函理论的第一原理计算揭示了围绕Co的两种稳定的氧配位类型，与实验观察结果一致。计算出的两种稳定配位类型的带隙值差异很大，从而再现了实验观察到的带隙变窄。由于掺杂剂原子周围的局部结构重排而引起的这些突出的影响，可以导致在掺杂的纳米晶体氧化物中进行带隙工程设计的空前的方法。
"点击查看英文标题和摘要"
更新日期：2017-07-05
"点击查看英文标题和摘要"
京公网安备 11010802027423号