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掺氟氧化锡玻璃基板上的纤锌矿型ZnTe纳米树和纳米线
Nano Letters ( IF 9.6 ) Pub Date : 2017-06-29 00:00:00 , DOI: 10.1021/acs.nanolett.7b01446
Man Suk Song 1 , Seon Bin Choi 1 , Yong Kim 1
Nano Letters ( IF 9.6 ) Pub Date : 2017-06-29 00:00:00 , DOI: 10.1021/acs.nanolett.7b01446
Man Suk Song 1 , Seon Bin Choi 1 , Yong Kim 1
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ZnTe纳米树和纳米线通过物理气相传输在掺氟氧化锡玻璃上生长。来自氟掺杂的氧化锡层的锡在320°C的生长温度下催化生长。在稀疏的纤锌矿结构中，茎纳米线和分支纳米线都沿⟨0001⟩生长。SnTe纳米结构在液体催化剂中形成，同时ZnTe纳米线在Te限制的条件下生长，这使得纤锌矿结构的形成在能量上是有利的。通过在室温下通过各个纤锌矿纳米线的偏振相关和功率相关的微光致发光测量，我们可以确定迄今为止未知的纤锌矿ZnTe基带隙，该基带隙为2.297 eV，因此比锌掺合ZnTe高37 meV。从双峰光致发光光谱分析，
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更新日期：2017-06-30
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