当前位置: X-MOL 学术J. Phys. Chem. C › 论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
高荷电粒子动态去质子化/质子化的实验研究
The Journal of Physical Chemistry C ( IF 3.3 ) Pub Date : 2017-03-10 00:00:00 , DOI: 10.1021/acs.jpcc.7b01919
Yinghua Qiu 1 , Anna Dawid 1, 2 , Zuzanna S. Siwy 1, 3, 4
Affiliation  

已发现单孔可用于检测和表征单个物体,例如细胞,颗粒,甚至单个分子。这种称为电阻脉冲技术的实验方法通常在对称的电解质条件下执行,以使通过物体的特性在测量和移位过程中保持恒定。在这里,我们报告了带高电荷的介电粒子穿过与pH梯度接触的孔隙的实验,并证明了这种设置可以探测粒子的质子化和去质子化。基于质子的快速扩散和亚毫秒级的羧基去质子化/质子化动力学,我们预计粒子将在几毫秒内改变其电离状态。然而,我们的结果表明,带高电荷的粒子的质子化和去质子化动力学非常慢,超过100毫秒。我们假设,在较高的pH值下,粒子上发生的平衡离子的缩合是导致质子化率提高的原因。减慢的去质子化归因于溶液中靠近高电荷表面的局部pH值的改变。此外,我们展示了中性粒子通过与pH梯度接触的孔的电渗流如何能够通过电压极性来探测孔的局部表面电荷性质的调制。减慢的去质子化归因于溶液中靠近高电荷表面的局部pH值的改变。此外,我们展示了中性粒子如何通过与pH梯度接触的孔隙进行电渗流,从而可以通过电压极性来探测孔隙的局部表面电荷性质的调制。减慢的去质子化归因于溶液中靠近高电荷表面的局部pH值的改变。此外,我们展示了中性粒子通过与pH梯度接触的孔的电渗流如何能够通过电压极性来探测孔的局部表面电荷性质的调制。



"点击查看英文标题和摘要"

更新日期:2017-03-10
down
wechat
bug