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AlN成核层控制的sp2键合BN上AlGaN/GaN异质结的晶圆级准范德华外延
Applied Surface Science ( IF 6.3 ) Pub Date : 2024-03-15 , DOI: 10.1016/j.apsusc.2024.159902
Ming Jiang , Li Zhang , Xin Zhou , Chuanhao Li , Xiaodong Zhang , Dengrui Zhao , Tiwei Chen , Kun Xu , Feng Yang , Wenhua Shi , Zhihua Dong , Zhongming Zeng , Baoshun Zhang

二维材料,例如 sp 键合氮化硼 (BN) 和石墨烯,已被证明是独立 III 族氮化物材料生长和制造的优异模板。在此,使用 MOCVD 在两英寸蓝宝石衬底上成功生长了晶圆级 sp 键合 BN 薄膜作为释放层。研究了在 BN 表面生长的氮化镓 (GaN) 和氮化铝 (AlN) 的不同成核机制。我们发现,与 GaN 相比,AlN 在 BN 表面具有更高的成核岛密度,这有利于 GaN 外延层更好的合并。此外,通过调整AlN的生长温度来优化GaN外延层的质量。随后在质量最好的GaN上生长出完整的AlGaN/GaN异质结结构,其平均迁移率和层间载流子浓度约为1600 cm V·s和1 × 10 cm。最后,使用胶带轻松地将AlGaN/GaN异质结从衬底上转移,这证明了sp键合BN具有良好的2D特性,并且可以对上层器件进行非破坏性范德华转移。



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更新日期:2024-03-15
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