当前位置:
X-MOL 学术
›
ACS Appl. Electron. Mater.
›
论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your
feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
Co掺杂引起的双相ZrFe0.5Ni0.5Sb双半赫斯勒和ZrNiSb半赫斯勒的热电和磁性能
ACS Applied Electronic Materials ( IF 4.3 ) Pub Date : 2024-03-06 , DOI: 10.1021/acsaelm.3c01749
Joseph Ngugi Kahiu 1 , Samuel Kimani Kihoi 1 , Hyunji Kim 1 , Ho Seong Lee 1
ACS Applied Electronic Materials ( IF 4.3 ) Pub Date : 2024-03-06 , DOI: 10.1021/acsaelm.3c01749
Joseph Ngugi Kahiu 1 , Samuel Kimani Kihoi 1 , Hyunji Kim 1 , Ho Seong Lee 1
Affiliation
![]() |
提高即将推出的热电 (TE) 材料的效率并探索其在各种利基应用中的潜力是应对阻碍传统 TE 材料商业化的挑战的有前途的策略之一。这项工作报告了通过钴 (Co) 掺杂来提高最近优化的 ZrFe 0.4 Ni 0.6 Sb 双半赫斯勒 (DhH)性能的努力结果。合成的 ZrFe 0.4– y Co y Ni 0.6 Sb 样品表现出相分离成相干双相 DhH 和 ZrNiSb 相,电导率大大提高,从样品y = 0 中的~400 S/cm 增加到样品y中的~3886 S/cm = 0.4(室温)。除了抑制双极传导外,与样品y = 0相比,样品 y = 0.1的热导率也降低了约 18% ,这可归因于声子散射的增强,并导致峰值 zT 从 0.33 增加973 K 时,样品y = 0.1 的样品y = 0 至 0.37。不幸的是,较高的掺杂浓度不仅会降低塞贝克系数,还会过度增加电子和晶格热导率,导致样品y > 0.1 的 zT 值较低。通过合成和分析 (ZrFe 0.4 Ni 0.6 NiSb) 1– z + (ZrNiSb) z样品,证实 ZrNiSb 相是造成y > 0.1 样品中令人震惊的 TE 性能的原因。使用最近重构的单抛物线模型进行的进一步研究表明,ZrFe 0.4 Ni 0.6 NiSb 体系在 Co 掺杂之前就已经过度掺杂,这解释了导致 PF 降低的原因。最后,通过使用振动样品磁力计研究合成样品的磁性,揭示了合成样品的铁磁性质和可调磁性,扩大了它们在自旋电子学中的潜在利基应用范围。
"点击查看英文标题和摘要"
更新日期:2024-03-06

"点击查看英文标题和摘要"