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基于强度直方图的可靠图像分析方法,用于基于珠子的荧光免疫分析
BioChip Journal ( IF 5.5 ) Pub Date : 2024-01-15 , DOI: 10.1007/s13206-023-00137-9
Sanghyun Lee , Juyeong Kim , Pankee Bae , Sangmin Lee , Hojin Kim

基于微珠的荧光免疫分析由于其高灵敏度和多重分析能力而作为下一代疾病诊断技术而受到关注。珠子的荧光成像通常用于确定其平均荧光强度。然而,根据分析方法[例如感兴趣区域(ROI)的形状和大小],可以对平均强度进行不同的评估。为了解决这些问题,本研究提出了一种利用基于荧光强度的有效像素提取技术的高度可靠且可重复的图像分析方法。通过选择性地提取代表 ROI 中抗原和抗体特异性反应的像素,可以防止各种潜在的缺陷信号来源(例如荧光聚集、非特异性抗原抗体反应和珠子缺陷)对平均值产生影响。在本研究中,我们制作了由多个基于珠子的检测线组成的微流控芯片,进行荧光免疫分析,然后将根据荧光图像计算出的平均荧光强度与传统分析方法的平均荧光强度进行比较。使用传统方法,评估的珠子平均强度值根据 ROI 的大小而显着变化,变异系数范围约为 29-95%。相比之下,有效的像素提取方法在不同的 ROI 大小下产生大约 3-7% 的变异系数。此外,包含各种类型缺陷信号的 4 条检测线的变异系数显着从约 7.1% 降至 2.6%。所提出的技术将有助于最大限度地减少基于荧光图像的免疫测定中不同 ROI 选择或缺陷信号引起的分析偏差。





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更新日期:2024-01-15
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