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对“(0001) Al2O3 上分子束外延的 Ga2O3 和 In2O3 成核窗口”的修正
Crystal Growth & Design ( IF 3.2 ) Pub Date : 2023-10-19 , DOI: 10.1021/acs.cgd.3c01087
Alexander Karg , Justin A. Bich , Adrian Messow , Marco Schowalter , Stephan Figge , Andreas Rosenauer , Patrick Vogt , Martin Eickhoff

上述手稿中图 2 的插图与相关图标题不匹配。由于后者包含更有意义的参数,即生长速率 Γ 和等离子体功率P rf,因此校正后的图 2 如下所示,应考虑代替原始图。这一变化对得出的结论没有影响,因为在化学计量条件下 Γ 和 BEP Ga直接相关。图 2.在 β-Ga 2 O 3缓冲层上不同等离子体功率P rf下,Ga 2 O 3的生长速率与 BEP Ga的函数关系。所有系列在富氧和富金属状态下都显示出相同的斜率比,遵循预测值:m M = -0.5 m O。插图中绘制了化学计量生长条件下提取的 Ga 2 O 3生长速率与P rf的函数关系。它表明随着P rf可用于Ga 2 O 3生长,活性氧吸附物呈线性增加。这篇文章尚未被其他出版物引用。图 2.在 β-Ga 2 O 3缓冲层上不同等离子体功率P rf下,Ga 2 O 3的生长速率与 BEP Ga的函数关系。所有系列在富氧和富金属状态下都显示出相同的斜率比,遵循预测值:m M = -0.5 m O。插图中绘制了化学计量生长条件下提取的 Ga 2 O 3生长速率与P rf的函数关系。它表明随着P rf可用于Ga 2 O 3生长,活性氧吸附物呈线性增加。



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更新日期:2023-10-19
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