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BiFeO3 纳米粉末和薄膜的结晶行为、形貌、光致发光和漏电流特性的比较分析
Crystal Research and Technology ( IF 1.5 ) Pub Date : 2023-07-26 , DOI: 10.1002/crat.202200143
Ramasamy Venkatapathy 1 , J. Ramana Ramya 2 , V. C. Bharath Sabarish 1, 3 , J. Gajendiran 4 , A. Durairajan 5 , M. P. F. Graça 5 , M. A. Valente 5 , S. Gokul Raj 6 , G. Ramesh Kumar 1
Crystal Research and Technology ( IF 1.5 ) Pub Date : 2023-07-26 , DOI: 10.1002/crat.202200143
Ramasamy Venkatapathy 1 , J. Ramana Ramya 2 , V. C. Bharath Sabarish 1, 3 , J. Gajendiran 4 , A. Durairajan 5 , M. P. F. Graça 5 , M. A. Valente 5 , S. Gokul Raj 6 , G. Ramesh Kumar 1
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BiFeO 3薄膜和纳米晶粉末（BFO）分别通过脉冲激光沉积（PLD）和溶胶-凝胶工艺制备。研究了它们的晶粒尺寸、微应变、形态特征、漏电流特性和光致发光（PL）发射行为，并进行了相互比较。X 射线衍射 (XRD) 技术已用于通过 Williamson-Hall (W-H) 图计算 BFO 薄膜和纳米粉末的晶粒尺寸和晶体应变值。沉积薄膜和合成的 BFO 纳米粉末的 XRD 和拉曼峰证实了菱形晶胞特征的形成及其振动结构。通过扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 测量对纳米粉末和 BFO 薄膜进行形貌分析，揭示了生长颗粒的球形形态。抑制发射峰，从 BFO 纳米粉末和薄膜的 PL 光谱中可以看出，表明氧空位可能导致电子缺陷能级跃迁。漏电流密度研究表明在样本的两项研究中均可检测到电流。
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更新日期：2023-07-26
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