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氧化锌非水原子层沉积的合理分子设计
Chemistry of Materials ( IF 7.2 ) Pub Date : 2023-06-07 , DOI: 10.1021/acs.chemmater.3c00143
Miso Kim 1 , Euncheol Shin 2 , Hyewon Song 2 , Yoonmi Nam 2 , Do-Hyeong Kim 2 , Jin-Ha Hwang 2 , Bonggeun Shong 1
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氧化锌(ZnO)是一种透明的宽带隙半导体材料,以薄膜形式具有多种可能的应用。先前大多数关于 ZnO 薄膜原子层沉积 (ALD) 的研究都利用了一些众所周知的工艺,包括二乙基锌 (DEZ) 和反反应物,例如 H 2 O 和 O 3。然而,O 3和H 2O反应物具有较强的反应活性,因此不适合对氧化敏感的底物。因此,非常需要开发更温和的非水替代 ALD 工艺来生产 ZnO。在这项研究中,我们引入了使用具有理论上优化的分子结构的醇来进行 ZnO 的 ALD。为了寻找适合 ZnO ALD 的醇反应物,通过密度泛函理论计算评估了具有表面乙基的各种类型的醇反应物之间的反应路径和反应性。研究发现,不饱和烯丙醇通过烯丙基重排机制对 ZnO ALD 具有最低的活化能。建立了使用 DEZ 和酒精作为氧源的 ZnO 实验性新型 ALD 工艺。将乙醇作为一种典型的简单醇与 2-甲基-3-丁烯-2-醇 (MBO) 作为具有最佳分子结构设置的醇进行比较。使用 MBO 的 ALD ZnO 薄膜表现出与 H 相当的工艺和材料性能2 O-ALD 氧化锌。可以获得作为透明导电氧化物的ZnO薄膜,并评估基于醇-ALD工艺的薄膜晶体管的器件性能。



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更新日期:2023-06-07
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