当前位置: X-MOL 学术Small › 论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
锂离子电池条件下界面化学对硅电极电化学性能的影响
Small ( IF 13.0 ) Pub Date : 2023-06-03 , DOI: 10.1002/smll.202303442
Xiangdong Xu 1 , Daniel Martín-Yerga 1, 2 , Nicholas E Grant 3 , Geoff West 4 , Sophie L Pain 3 , Minkyung Kang 5 , Marc Walker 6 , John D Murphy 3 , Patrick R Unwin 1, 2
Affiliation  

了解硅 (Si) 电极上固体电解质界面 (SEI) 的形成和(脱)锂现象是提高硅基锂离子电池性能和寿命的关键。然而,这些工艺仍然有些难以捉摸,特别是硅表面终端的作用值得进一步考虑。在这里,在手套箱中使用扫描电化学电池显微镜 (SECCM),然后在相同位置进行二次离子质谱 (SIMS),以研究局部电化学行为和相关的 SEI 形成,将 Si (100) 与天然氧化物层 (SiO2) 进行比较x /Si)并用氢氟酸(HF-Si)蚀刻。与SiO x /Si相比,HF-Si表现出更大的空间电化学异质性和较差的锂化可逆性。这归因于弱钝化SEI和Si表面不可逆的锂捕获。通过 SECCM 与同位 SIMS 对充电/放电循环进行组合筛选,揭示了 SEI 化学与深度的函数关系。虽然 SEI 厚度相对独立于循环次数,但化学成分(尤其是中间层)取决于循环次数,这表明 SEI 在循环过程中是动态的。这项工作为使用相关 SECCM/SIMS 作为一种强大的方法奠定了基础,以获取纳米和微米尺度上复杂电池过程的基本见解。



"点击查看英文标题和摘要"

更新日期:2023-06-03
down
wechat
bug