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过渡金属掺杂 MoS2 单层的电子和磁性:第一性原理计算
Physica Status Solidi (B) - Basic Solid State Physics ( IF 1.5 ) Pub Date : 2023-04-27 , DOI: 10.1002/pssb.202200337
Dennis Boakye 1 , Henry Martin 1 , Linus K. Labik 1 , Akyana Britwum 1 , Oswald Nunoo 1 , Van W. Elloh 2 , Bright Kwakye-Awuah 1 , Abu Yaya 3 , Eric K. K. Abavare 1
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Perdew-Burke-Ernzerhof 广义梯度近似 (GGA) 框架中的密度泛函理论,研究某些选定的过渡金属 (TM) 和稀土金属 (RE) 掺杂剂对二维钼的电子和磁性的影响报道了二硫化物(MoS 2 )单层。结果表明,在富Mo条件下,将Ni和Cu掺入MoS 2结构中是能量稳定的。原始的MoS 2单层的计算直接带隙为 1.70 eV,并且由于缺陷导致带隙显着减小。由于局域掺杂剂和最近邻 Mo 原子的紧密结合效应,观察到感应磁行为,磁矩范围在 0.82 至 3.00 μB之间。一些掺杂剂导致 100 % $$ 自旋极化对于在磁性 MoS 2纳米结构上设计自旋过滤器器件非常有用。



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更新日期:2023-04-27
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