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基于 HfZrO2/β-Ga2O3 异质结的高性能自驱动日盲紫外光电探测器
ACS Applied Materials & Interfaces ( IF 8.3 ) Pub Date : 2023-04-28 , DOI: 10.1021/acsami.3c02209
Shuang Yan 1 , Gaochen Yang 1 , Huanfeng He 1 , Qi Liu 1 , Qingqi Peng 1 , Jian Chen 1 , Mingkai Li 1 , Yinmei Lu 1 , Yunbin He 1
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Ga 2 O 3是一种宽带隙半导体,在日盲紫外(UV)光电探测器中显示出巨大的应用潜力。然而,基于Ga 2 O 3的自驱动日盲紫外光电探测器的响应度和探测度由于器件中光生载流子的分离有限,目前无法满足实际应用。在这项工作中,通过结合铁电体Hf 0.5 Zr 0.5 O 2 / β - Ga 2 O 3异质结自驱动日盲紫外光电探测器(HfZrO2 ) Ga 2 O 3材料,利用HfZrO 2的超宽带隙和两者之间有利的II型能带构型。经过优化,HfZrO 2层厚度为 10 nm 的基于 HfZrO 2 /β-Ga 2 O 3异质结的 UV 光电探测器被证明可提供显着的响应度 ( R = (14.64 ± 0.3) mA/W) 和检测率 ( D * = (1.58 ± 0.03) × 10 12 Jones),远优于单个 Ga 2 O 3基于 240 nm 光照的设备。此外,由于 HfZrO 2中的铁电去极化电场与 HfZrO 2 / 处的内建电场的相长耦合,器件性能可随HfZrO 2的不同极化状态进行调节,并在向上极化状态下显示出显着增强。 β-Ga 2 O 3界面。在0.19 μW/cm 2的弱光照射下,向上极化的器件显示出显着增强的R (52.6 mA/W) 和D * (5.7 × 10 12 Jones) 值。我们设备的性能超过了大多数先前报道的 Ga 2基于O 3的自驱动光电探测器,表明其在敏感的日盲紫外探测的实际应用中具有巨大潜力。



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更新日期:2023-04-28
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