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以高性能将 MoS2 晶体管和逆变器缩放至亚 10 nm 通道长度
Nano Letters ( IF 9.6 ) Pub Date : 2023-04-03 , DOI: 10.1021/acs.nanolett.3c00031
Jinpeng Tian 1, 2 , Qinqin Wang 1, 2 , Xudan Huang 1, 2 , Jian Tang 1, 2 , Yanbang Chu 1, 2 , Shuopei Wang 1, 3 , Cheng Shen 1, 2 , Yancong Zhao 1, 2 , Na Li 1, 3 , Jieying Liu 1, 2 , Yiru Ji 1, 2 , Biying Huang 1, 2 , Yalin Peng 1, 2 , Rong Yang 1, 3 , Wei Yang 1, 2, 3 , Kenji Watanabe 4 , Takashi Taniguchi 4 , Xuedong Bai 1, 2 , Dongxia Shi 1, 2 , Luojun Du 1, 2 , Guangyu Zhang 1, 2, 3
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二维 (2D) 半导体,如单层二硫化钼 (MoS 2 ),是超大规模场效应晶体管 (FET) 的有前途的构建模块,受益于它们的原子厚度、无悬空键的平坦表面和出色的栅极可控性。然而,尽管前景广阔,但制造具有高性能和均匀性的 2D 超短沟道 FET 仍然是一个挑战。在这里,我们报告了一种用于制造亚 10 nm 沟道长度的 MoS 2 FET的自封装异质结构底切技术。制造的 9 nm 通道 MoS 2 FET 与亚 15 nm 通道长度相比表现出卓越的性能,包括在V DS时具有竞争力的 734/433 μA/μm 通态电流密度= 2/1 V,~50 mV/V 的创纪录低 DIBL,以及 3 × 10 7的卓越开/关比和~100 mV/dec 的低亚阈值摆幅。此外,通过这种新技术制造的超短沟道 MoS 2 FET 显示出优异的均匀性。多亏了这一点,我们将单层反相器缩小到 10 纳米以下的通道长度。



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更新日期:2023-04-03
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