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使用 GaAs 和 CdTe 光子计数探测器对多个 K 边元件进行显微 CT 成像
Physics in Medicine & Biology ( IF 3.3 ) Pub Date : 2023-04-12 , DOI: 10.1088/1361-6560/acc77e
A J Allphin 1 , D P Clark 1 , T Thuering 2 , P Bhandari 3 , K B Ghaghada 3 , C T Badea 1
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目的。评估基于不同探测器材料砷化镓 (GaAs) 和碲化镉 (CdTe) 的两种光子计数 (PC) 探测器在具有多种造影剂材料的体模的 PC 显微 CT 成像中的性能。另一个目标是确定与单个探测器系统相比,将这两个探测器组合在同一个显微 CT 系统中是否可以提供更高的光谱性能和显著减少伪影。方法。我们构建了一个双探测器微型 CT 系统,配备了两种基于不同探测器材料的 PCD:砷化镓 (GaAs) 和碲化镉 (CdTe)。我们展示了这些探测器对具有多达 5 种造影剂的体模进行 PC 显微 CT 成像的性能,这些造影剂的 K 边缘分布在 X 射线光谱中,从 K 边缘为 33.2 keV 的碘到具有 K 边缘的铋为 90.5 keV。我们还演示了使用我们的系统对用碘和铋造影剂制备的小鼠进行成像,以靶向不同的生物系统。主要结果。当使用相同的剂量和扫描参数时,与 CdTe 相比,GaAs 显示出更高的低能量 (<50 keV) 光谱灵敏度和特异性。然而,GaAs 在高能量下的性能受到光谱伪影的影响,并且光子数相对较低,表明浪费了辐射剂量。我们证明,与单个探测器系统相比,将基于 GaAs 的 PC 探测器和基于 CdTe 的 PC 探测器结合在同一个微型 CT 系统中可提供更高的光谱性能并显着减少伪影。意义。单独使用 GaAs PCD 或与 CdTe PCD 结合使用进行更准确的 PC 显微 CT 可用于开发新的造影剂,例如纳米颗粒,这些造影剂在治疗诊断学(治疗和诊断)的发展领域显示出前景。

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