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Sn-Ag 和 Sn-Ag-Cu 焊料合金中 Ag3Sn 的成核和生长
Acta Materialia ( IF 8.3 ) Pub Date : 2023-03-06 , DOI: 10.1016/j.actamat.2023.118831
Y. Cui , J.W. Xian , A. Zois , K. Marquardt , H. Yasuda , C.M. Gourlay
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更新日期:2023-03-06
Acta Materialia ( IF 8.3 ) Pub Date : 2023-03-06 , DOI: 10.1016/j.actamat.2023.118831
Y. Cui , J.W. Xian , A. Zois , K. Marquardt , H. Yasuda , C.M. Gourlay
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焊点中的大 Ag 3 Sn 板会影响电子产品的可靠性,但是,影响其成核和形态的因素尚不清楚。在这里,研究了 Ag 3 Sn的刻面凝固作为熔体过冷的函数,揭示了从单晶 {001} 板到环状孪晶板再到由孪晶介导的支化产生的高度支化结构的转变。实时 X 射线成像证明 Ag 3 Sn 环状孪晶来自一个公共点,表明它们在成核过程中或在过冷熔体中生长的非常早期阶段开始。焊接到铜基板显着催化 Ag 3Sn成核。这表明是由于 Ag 溶质排斥到 Cu 6 Sn 5反应层之前的液体中产生的结构过冷,以及 Cu 6 Sn 5扇贝之间的凹槽中的几何催化和 Ag 3 Sn 在表面上的异相成核的额外贡献。铜6锡5。Cu 6 Sn 5反应层上Ag 3 Sn相对容易成核是电子焊点中经常报告的大板的原因。

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