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石墨烯包裹的 V2O5 纳米粒子中小极化子跳跃到类似 Efros–Shklovskii 的可变范围跳跃跃迁:莫特间隙的作用
The Journal of Physical Chemistry C ( IF 3.3 ) Pub Date : 2022-12-29 , DOI: 10.1021/acs.jpcc.2c05863
D. Surya Bhaskaram 1, 2 , G. Govindaraj 1
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V 2 O 5在各个领域都是很有前途的候选者,并已证明有利于极化子形成。极化子移动缓慢,质量额外,因此会影响电导率。电荷传输/电导率是决定设备效用的关键因素之一,并且由于极化子的缓慢运动而受到损害。为了解决这个问题,将石墨烯结合到V 2 O 5中被广泛实践。V 2 O 5表现出小的极化子跳跃是事实,并且在低温下在石墨烯中观察到高移动电子的可变范围跳跃。V 2 O 5中包含石墨烯显示出导电性增强,因此已针对各种应用进行了广泛研究。电导率增强的原因被认为是石墨烯中存在离域电子,这使得样品富含电子并增加了电导率。但电导率增强的实际机制尚不清楚。这促使我们探索石墨烯包裹的 V 2 O 5的电气特性。令我们惊讶的是,石墨烯的加入完全改变了载流子的动力学。复合材料中的极化子在 143–263 K 的温度范围内选择可变范围跳跃超过 Arrhenius 型小极化子跳跃。V 2 O 5和还原氧化石墨烯 (RGO) 包裹的 V 2 O的交流电导率 σ'(ω) 数据5使用 Cole-Cole 型组合传导和介电模型进行分析。极化子的σ dc显示出对 V 2 O 5T –1依赖性和对 RGO 包裹的 V 2 O 5 (VRGO)的T –1/2依赖性。一般来说,在低温下 ( T < 100 K),这种行为被解释为 Efros–Shklovskii (ES) VRH,但我们所涵盖的温度范围 (143–263 K) 不能证明 ES-VRH。使用 XRD 和温度相关拉曼等工具以及电导率测量对载流子环境进行详细概述,以说明T –1/2极化子的依赖性。各种测量结果指向 V 2 O 5中加入石墨烯后莫特间隙的起源,从而控制了极化子的惊人行为。



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更新日期:2022-12-29
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