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用于恶劣环境中高灵敏度 X 射线检测和高分辨率成像的高质量 0D Cs4PbBr6 基致密晶圆
Advanced Optical Materials ( IF 8.0 ) Pub Date : 2022-10-31 , DOI: 10.1002/adom.202202157 Huanyu Chen 1 , Baoyi An 1 , Guoqiang Peng 1 , Shuo Wang 1 , ZhenHua Li 2 , Jie Sun 3 , Wei Lan 1 , Jiajia Fu 4 , Haoxu Wang 1 , Liming Ding 5 , Zhiwen Jin 1
Advanced Optical Materials ( IF 8.0 ) Pub Date : 2022-10-31 , DOI: 10.1002/adom.202202157 Huanyu Chen 1 , Baoyi An 1 , Guoqiang Peng 1 , Shuo Wang 1 , ZhenHua Li 2 , Jie Sun 3 , Wei Lan 1 , Jiajia Fu 4 , Haoxu Wang 1 , Liming Ding 5 , Zhiwen Jin 1
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金属卤化物的使用促进了 X 射线检测器 (XD) 的发展,因为它们具有出色的 X 射线吸光度、电良性缺陷和较大的迁移率-寿命 ( µτ ) 乘积。然而严重的基线漂移、尺寸限制、大暗电流和中等稳定性仍有待解决。在此,首次采用热等静压法构建了高密度尺寸可缩放 Cs 4 PbBr 6晶圆基 XD。同时,实现了基于不同Br -空位(V Br)浓度的Cs 4 PbBr 6。V Br的作用密度泛函理论和实验测量突出了电气结构和电荷传输方面的研究。此外,进一步的研究指出,0D结构赋予Cs 4 PbBr 6高离子传输活化能(1044 meV)和带隙(3.88 eV),最终导致超稳定的基线和热稳定性。基于高效响应(7068 µC Gy air −1 cm −2)、可靠的电流输出、超低检测限(1.75 nGy air s −1)、高空间分辨率(5.2 lp mm −1在调制传递函数 = 0.2), 快速的响应速度和辐射稳定性 (>1000 Gy air),在单像素和线性扫描模式下实现了宽能量范围(20-160 keV)下的高分辨率X射线图像,因此在医学诊断、安全检查和外层空间探测方面具有巨大潜力。
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更新日期:2022-10-31
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