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具有高电子性能的 Bi2O2Se 薄膜的高绝缘相
Nano Research ( IF 9.5 ) Pub Date : 2022-10-12 , DOI: 10.1007/s12274-022-5046-3
Tao Wang , Zhuokai Xu , Ziye Zhu , Mengqi Wu , Zhefeng Lou , Jialu Wang , Wanghua Hu , Xiaohui Yang , Tulai Sun , Xiaorui Zheng , Wenbin Li , Xiao Lin

Bi 2 O 2 Se 作为下一代高性能半导体的候选者具有很强的竞争力。虽然被称为半导体,Bi 2 O 2由于自发电离的缺陷,硒薄膜表现出高电导,即金属行为。半导体/绝缘薄膜在基于低功耗、高性能电子产品的广泛应用中具有实际重要性,其存在缺乏确凿的证据。在这里,我们以可控的方式合成了高度绝缘的薄膜,其表现出半导体行为,沟道电阻高达 1 TΩ。电子化学势位于带隙内,在某些情况下,甚至低于电荷中性能级,表明存在空穴型半导体的痕迹。绝缘设备的性能仍然很高,可与以前的高质量设备相媲美。特别是,阈值电压(V th) 为正,与报告的常见负值相反。计算表明,我们的合成条件抑制了电子供体(Se 空位(V Se))并促进了补偿受体(Bi 空位(V Bi))的形成,从而导致了绝缘行为。我们的工作提供了对 Bi 2 O 2 Se电子动力学的见解,向 p 型晶体管迈进了一步,并为高性能半导体中的铁电工程提供了一个有价值的平台。





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更新日期:2022-10-12
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