当前位置：
X-MOL 学术
›
Microsc. Microanal.
›
论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your
feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
A FIB-SEM Based Correlative Methodology for X-Ray Nanotomography and Secondary Ion Mass Spectrometry: An Application Example in Lithium Batteries Research
Microscopy and Microanalysis ( IF 2.9 ) Pub Date : 2022-09-08 , DOI: 10.1017/s1431927622012405 Luca Cressa 1, 2 , Jonas Fell 3 , Christoph Pauly 4 , Quang Hung Hoang 1 , Frank Mücklich 4 , Hans-Georg Herrmann 3, 5 , Tom Wirtz 1 , Santhana Eswara 1
中文翻译：
基于 FIB-SEM 的 X 射线纳米断层扫描和二次离子质谱相关方法：锂电池研究中的应用示例
更新日期：2022-09-08
Microscopy and Microanalysis ( IF 2.9 ) Pub Date : 2022-09-08 , DOI: 10.1017/s1431927622012405 Luca Cressa 1, 2 , Jonas Fell 3 , Christoph Pauly 4 , Quang Hung Hoang 1 , Frank Mücklich 4 , Hans-Georg Herrmann 3, 5 , Tom Wirtz 1 , Santhana Eswara 1
Affiliation
中文翻译：
基于 FIB-SEM 的 X 射线纳米断层扫描和二次离子质谱相关方法：锂电池研究中的应用示例
京公网安备 11010802027423号