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异丙醇在SiO2表面的吸附与表面反应
Journal of Vacuum Science & Technology A ( IF 2.4 ) Pub Date : 2022-07-11 , DOI: 10.1116/6.0002002
Takezo Mawaki 1 , Akinobu Teramoto 2 , Katsutoshi Ishii 3 , Yoshinobu Shiba 4 , Rihito Kuroda 1 , Tomoyuki Suwa 4 , Shuji Azumo 3 , Akira Shimizu 3 , Kota Umezawa 3 , Yasuyuki Shirai 4 , Shigetoshi Sugawa 4
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在这项研究中,我们研究了异丙醇 (IPA) 气体在二氧化硅 (SiO 2 ) 表面上的吸附和表面反应。研究了 IPA 分解行为的温度依赖性以及对 SiO 2表面的影响,例如IPA 处理过程中 SiO 2的还原。通过 X 射线光电子能谱 (XPS) 分析 IPA 处理前后SiO 2表面的化学结构。使用配备 SiO 2反应器和傅里叶变换红外光谱 (FT-IR) 的在线评估系统研究 IPA 的分解行为。在温度高于 150 °C 的 IPA 处理过程中,不同类型的有机物沉积在 SiO2 上2 个表面,取决于温度。SiO 2没有被还原,并且它的表面状态在低于350°C的温度下没有改变。此外,我们研究了经过和未经 IPA 处理的 SiO 2表面吸附的三甲基铝 (TMAl) 的量。结果,通过IPA处理,吸附在SiO 2表面上的TMAl量减少了约25%。我们发现通过IPA处理获得的有机物部分抑制了TMAl气体在SiO 2表面的吸附。这些发现将有助于在先进的半导体制造中使用 IPA,例如在区域选择工艺中。



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更新日期:2022-07-11
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