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电场对闪光烧结ZnO-Bi2O3-Co2O3压敏电阻微观结构和电性能的影响
Journal of Materials Science: Materials in Electronics ( IF 2.8 ) Pub Date : 2022-07-11 , DOI: 10.1007/s10854-022-08653-4 Mengyang Shi , Juan Liu , Jiamao Li , Jingrong Xu , Ming Jiang , Dong Xu
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更新日期：2022-07-13
Journal of Materials Science: Materials in Electronics ( IF 2.8 ) Pub Date : 2022-07-11 , DOI: 10.1007/s10854-022-08653-4 Mengyang Shi , Juan Liu , Jiamao Li , Jingrong Xu , Ming Jiang , Dong Xu
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通过快速烧结获得致密的块状ZnO-Bi 2 O 3 -Co 2 O 3压敏电阻陶瓷。电场对ZnO-Bi 2 O 3致密化、微观结构和电性能的影响研究了在不同电场下通过恒定加热闪光烧结工艺制备的基压敏电阻陶瓷。结果表明，当电场从200增加到350 V/cm时，闪烧起始温度明显降低，峰值功耗增加。在 200 V/cm 的电场和 762 °C 的炉温下，闪烧试样获得了最高的非线性系数 41.1 和最低的泄漏电流 1.57 μA。
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