当前位置：
X-MOL 学术
›
J. Phys. Chem. C
›
论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your
feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
通过恒电流充放电测试 Ce 改性 CoO 的赝电容行为：区分表面控制电流和扩散控制电流
The Journal of Physical Chemistry C ( IF 3.3 ) Pub Date : 2022-06-21 , DOI: 10.1021/acs.jpcc.2c02518
Lin Zhu 1, 2 , Zhen Ai 2 , Baoli Wang 1 , Siyue Zhang 1 , Ruyi Zou 1, 3 , Yuhao Huang 1 , Wei Sun 1
The Journal of Physical Chemistry C ( IF 3.3 ) Pub Date : 2022-06-21 , DOI: 10.1021/acs.jpcc.2c02518
Lin Zhu 1, 2 , Zhen Ai 2 , Baoli Wang 1 , Siyue Zhang 1 , Ruyi Zou 1, 3 , Yuhao Huang 1 , Wei Sun 1
Affiliation
|
本文提出了在恒电流充放电 (GCD) 测试中从总电流中解卷积扩散控制电流 ( i d ) 和表面控制电流 ( i s ) 的尝试。使用这种策略，详细研究了分散在石墨烯载体上的纳米级 Ce-CoO 的赝电容行为。结果表明，i d受工作电位影响较大，占总赝电容电流的一定比例。Ce 在复合材料中的主要作用包括提高i s的比例或抑制i d并最终激发比电容 ( C s) 值从 192 增加到 726 F g –1。低频区的波德曲线也证明了Ce可以促进赝电容的性能。
"点击查看英文标题和摘要"
更新日期：2022-06-21
"点击查看英文标题和摘要"
京公网安备 11010802027423号