当前位置: X-MOL 学术Microsc. Microanal. › 论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
通过 TEM 成像和衍射图案索引程序 (DPIP) 确定 Ag 纳米颗粒中 FCC 和 4H 结构共存
Microscopy and Microanalysis ( IF 2.9 ) Pub Date : 2021-07-30 , DOI: 10.1017/s1431927621008382
Lourdes Bazán-Díaz 1 , Francisco Ascencio-Aguirre 1 , Raúl Herrera-Becerra 1 , Rubén Mendoza-Cruz 1
Affiliation  

在过去的几十年中,银纳米粒子 (AgNP) 已广泛应用于从生物医学到光电领域的不同领域。AgNP 的重要性在于其出色的光吸收,导致表面等离子共振相关现象及其出色的抗菌效果 [1, 2]。近年来,有报道称传统 FCC 金属的不同纳米颗粒结晶成不寻常的非 FCC 结构 [3],具有不同于立方结构的令人兴奋的特性。因此,对其内部结构的研究和确定提供了有关合成方法对最终特征的影响的信息。在这方面,透射电子显微镜 (TEM) 是一种适合分析纳米级材料的技术,因为它的空间分辨率提供了局部信息和精细结构信息。晶相的确定可以通过一组纳米粒子上的选区电子衍射 (SAED) 或局部使用纳米区域电子衍射或高分辨率 TEM (HRTEM) 来进行统计。后一种情况允许在单粒子水平上分析缺陷和精细结构。



"点击查看英文标题和摘要"

更新日期:2021-07-30
down
wechat
bug