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腔室/退火温度对 Zr:HfO2 铁电电容器耐久特性的影响
Sensors ( IF 3.4 ) Pub Date : 2022-05-27 , DOI: 10.3390/s22114087
Yejoo Choi 1 , Changwoo Han 1 , Jaemin Shin 2 , Seungjun Moon 1 , Jinhong Min 3 , Hyeonjung Park 1 , Deokjoon Eom 4 , Jehoon Lee 4 , Changhwan Shin 5
Affiliation  

研究了在原子层沉积 (ALD) 工艺中在不同沉积/退火温度下制造的 Zr 掺杂 HfO 2 (HZO) 基金属-铁电-金属 (MFM) 电容器的耐久性特性。ALD工艺中的腔室温度设置为120°C、200°C或250°C,退火温度设置为400°C、500°C、600°C或700°C。对于给定的 700 ° C退火温度,剩余极化 (2P r )120 °C、 200 °C 和250°C,分别。对于给定/相同的退火温度,最大剩余极化(P r) 是在使用 250 °C 的腔室温度时实现的。在较高的退火温度下,HZO层中的晶粒尺寸变小,从而能够提高P r。据观察,在各种退火/腔室温度下制造的电容器的耐久性特性完全不同。不同的耐力特性是由于铁电薄膜中的氧和氧空位影响唤醒/疲劳行为。然而,一般来说,所有电容器在外部施加的脉冲(高达 10 8个脉冲周期)下都没有击穿。



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更新日期:2022-05-28
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