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h-BN电介质双栅多层MoS2场效应晶体管的静电可控沟道厚度和可调谐低频噪声特性
ACS Applied Materials & Interfaces ( IF 8.3 ) Pub Date : 2022-05-26 , DOI: 10.1021/acsami.2c05294
Jimin Park 1 , Junho Nam 1 , Jangyup Son 1, 2 , Won Jun Jung 1 , Min Park 1 , Dong Su Lee 1 , Dae-Young Jeon 1
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二维过渡金属二硫属化物 (TMD) 材料在克服互补金属氧化物半导体行业面临的基本问题方面引起了越来越多的关注。MoS 2等多层 TMD 材料可用于基于晶体管的高性能应用;驱动电流很高,材料可以很好地处理低频 (LF) 噪声。我们使用 h-BN 电介质作为顶栅,二氧化硅作为底栅,制造了双栅多层 MoS 2晶体管。我们系统地研究了底部栅极电压 ( V b ) 控制的电气特性和顶部/底部界面耦合效应。MoS 2通道的有效厚度(t MoS 2 _eff ) 受到V b的良好调制,并且通过负V b降低t MoS 2 _eff显着提高了I on / I off比。不同偏置条件下耗尽深度变化的数值模拟和解析建模验证了实验结果。我们也是第一个观察到V b调谐的低频噪声特性的人。在这里,我们讨论V b-详细影响串联电阻和载流子迁移率。我们的发现极大地加深了对双栅多层 MoS 2晶体管如何工作的理解,并将促进现实世界中的性能优化。



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更新日期:2022-05-26
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