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共烧多层陶瓷电容器异质界面的 TEM 和 EDS 研究
Materials Science and Engineering: B ( IF 3.9 ) Pub Date : 2002-07-01 , DOI: 10.1016/s0921-5107(02)00094-6 Ruzhong Zuo , Longtu Li , Zhilun Gui , Takfu Hung , Zhengkui Xu
Materials Science and Engineering: B ( IF 3.9 ) Pub Date : 2002-07-01 , DOI: 10.1016/s0921-5107(02)00094-6 Ruzhong Zuo , Longtu Li , Zhilun Gui , Takfu Hung , Zhengkui Xu
摘要 通过透射电子显微镜和能量色散X射线光谱（EDS）直接研究了Ag-Pd电极与Pb基弛豫铁电陶瓷的界面微观结构和共烧迁移。EDS 微量分析证实了 70Ag-30Pd 和 90Ag-10Pd 电极的不同银迁移能力。这种差异通常被认为是内部电极对多层共烧器件可靠性产生不同影响的原因。此外，结合界面微观结构观察，检测到界面附近的铅扩散和新相形成。本文很好地结合了直接实验证据与以下理论分析的良好一致性。
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更新日期：2002-07-01
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