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Fe-SiO2 和 Fe-SiO2/SiO2 颗粒薄膜的 Mossbauer 和 XPS 分析
Microscopy and Microanalysis ( IF 2.9 ) Pub Date : 2002-08-01 , DOI: 10.1017/s143192760210345x
S. Honda , T. Shimizu , I. Sakamoto , T. Une , K. Kawabata
Microscopy and Microanalysis ( IF 2.9 ) Pub Date : 2002-08-01 , DOI: 10.1017/s143192760210345x
S. Honda , T. Shimizu , I. Sakamoto , T. Une , K. Kawabata
由嵌入金属或绝缘基质中的超细磁性颗粒组成的纳米复合材料最近引起了极大的关注。我们一直在研究通过射频磁控溅射在玻璃基板上制备的 Fe-SiO2 颗粒薄膜的磁性和传输特性。在 Fe 体积分数小于 45% [1,2] 的薄膜中观察到超顺磁性和隧穿巨磁阻。在本文中，我们报告了具有 44 vol.% Fe 的单层 Fe-SiO2 薄膜的化学结构与薄膜厚度和 Fe-SiO2/SiO2 多层薄膜的 SiO2 层厚度的函数关系。
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更新日期：2002-08-01
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