Zr K 边的 X 射线吸收光谱是探测 Zr 环境的重要技术。在这里，它适用于组成为 0.07⩽x⩽0.40 的氧化锆-二氧化硅干凝胶，其中 x 是摩尔比 Zr:(Zr+Si)。还检查了结晶 ZrO2、ZrSiO4、BaZrO3 和液态正丙醇锆的参考样品。为氧化锆-二氧化硅干凝胶提供了新的 XANES（X 射线吸收近边缘结构）结果，并与之前的 EXAFS（扩展的 X 射线吸收精细结构）结果进行了比较。对于高 Zr 含量 (x=0.4)，有一个单独的无定形 ZrO2 相，在热处理之前类似于 Zr 氢氧化物，在 750°C 热处理之后类似于四方 ZrO2 的无定形前体。对于低 Zr 含量 (x=0.1)，在 SiO2 网络中存在 Zr 原子混合，与其他参考样品相比，Zr 的环境更类似于 Zr 正丙氧化物中的环境。对于在 250°C 加热的 x=0.1 干凝胶，提供了新的原位 XANES 和 EXAFS 结果。这些清楚地表明，除了热处理之外，Zr 环境还取决于环境湿度。



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