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场发射扫描电镜与新开发的 FEGUN 和锥形强激发物镜
Microscopy and Microanalysis ( IF 2.9 ) Pub Date : 2020-07-02 , DOI: 10.1017/s143192760003631x
H. Kazumori , A. Yamada , M. Mita , T. Nokuo , M. Saito

JSM-6700F扫描电子显微镜(SEM)上安装了新开发的冷FE-GUN,使我们能够获得大的探针电流和低发射噪声,锥形强激发物镜。在 0.5 到 15kV 的加速电压范围内,与透镜内型 SEM 相比,该仪器具有更好的分辨率(Ohyama 等人 1986)(图 1)。我们可以通过大样本(ex. 150mm φ×10mmH)获得高分辨率的二次电子图像。我们的旧物镜(Kazumori et al 1994)有工作距离(WD)的限制,但新物镜使我们能够工作在 15kV 的加速电压下非常短的 WD。因此,在 WD 为 3mm 时,球差 (Cs) 和色差 (Cc) 常数分别为 1.9mm 和 1.7mm。为了获得大的探头电流,



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更新日期:2020-07-02
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