当前位置: X-MOL 学术J. Chem. Theory Comput. › 论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
对离子对形成对溶质氧化还原电势影响的精确建模
Journal of Chemical Theory and Computation ( IF 5.7 ) Pub Date : 2016-08-17 00:00:00 , DOI: 10.1021/acs.jctc.6b00289
Xiaohui Qu 1 , Kristin A. Persson 1
Affiliation  

提出了一种模拟溶质氧化还原电势对支持电解质的依赖性的方案,并将结果与​​实验观察结果和其他报道的理论模型进行了比较。如果通过与盐形成离子对形成的浓度变化来模拟支持电解质对氧化还原电势的影响,而不是仅考虑对溶质本身对氧化还原电势的直接影响,则表明与实验的改进一致性。为了举例说明该方法,将该方案应用于为非水液流电池建议的选择分子的浓度依赖性氧化还原电势。然而,该方法是通用的,并且通过改变其溶质的氧化还原电势来调节电化学系统的操作窗口,从而能够进行合理的电解质设计计算;包括潜在的盐和氧化还原活性分子。



"点击查看英文标题和摘要"

更新日期:2016-08-17
down
wechat
bug