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高级 XPS 表征：基于 XPS 的多技术分析，全面了解功能材料
Materials Chemistry Frontiers ( IF 6.0 ) Pub Date : 2021-09-23 , DOI: 10.1039/d1qm00969a Mark A. Isaacs 1, 2 , Josh Davies-Jones 2, 3 , Philip R. Davies 2, 3 , Shaoliang Guan 2, 3 , Roxy Lee 1 , David J. Morgan 2, 3 , Robert Palgrave 1, 2
Materials Chemistry Frontiers ( IF 6.0 ) Pub Date : 2021-09-23 , DOI: 10.1039/d1qm00969a Mark A. Isaacs 1, 2 , Josh Davies-Jones 2, 3 , Philip R. Davies 2, 3 , Shaoliang Guan 2, 3 , Roxy Lee 1 , David J. Morgan 2, 3 , Robert Palgrave 1, 2
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X 射线光电子能谱 (XPS) 作为一种分析技术已经成熟，因为它是材料界无处不在的工具，但是最近的评论表明它被滥用作为化学推论的手段，这一做法很明显即使是最简单的形式，也被极大地误解了。先进的 XPS 技术，或 XPS 与补充表面探针的组合可能会引出标准鉴赏范围之外的辅助信息。这篇综述旨在让一般材料观众注意实验室 XPS 的一些非典型应用和相关表面分析的组合方法，如离子散射、紫外光电子、电子能量损失和螺旋发射光谱在许多基于实验室的仪器设置。
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更新日期：2021-10-01
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