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多层切片的 X 射线劳厄衍射。I. Pendellösung 效应和摇摆曲线
Journal of Synchrotron Radiation ( IF 2.4 ) Pub Date : 2021-08-10 , DOI: 10.1107/s1600577521006408 Vasily I Punegov 1
Journal of Synchrotron Radiation ( IF 2.4 ) Pub Date : 2021-08-10 , DOI: 10.1107/s1600577521006408 Vasily I Punegov 1
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使用 Takagi-Taupin 方程，理论上可以考虑平面和楔形多层膜中的 X 射线劳厄动力学衍射。获得了描述深度不均匀结构中劳厄衍射的递归关系。研究了剖面深度、缺陷和多层周期的非均匀分布对Pendellösung效应和摇摆曲线的影响。对多层结构 W/Si 和 Mo/Si 中的劳厄衍射进行了数值模拟。结果表明，基于同步辐射实验摇摆曲线的干涉条纹周期确定剖面深度并不总是正确的。
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更新日期：2021-09-03
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